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產品簡介
詳細介紹
E+H FMP54導波雷達物位計供應
雷達物位計按工作方式可以分為非接觸式和接觸式兩種。非接觸式微波物位計常用喇叭或桿式天線來發射與接收微波，儀表安裝在料倉頂部，不與被測介質接觸，微波在料倉上部空間傳播與返回。安裝簡單、維護量少，并且不受料倉內氣體成分、粉塵、溫度變化等的影響，深受用戶歡迎，可替代勞動強度大的人工投尺或帶重錘的卷尺、維修率高的接觸式儀表（重錘探測式yo-yo）、電容等。因此，非接觸式微波物位計是近年來發展最快的物位測量儀表。
E+H FMP54導波雷達物位計供應
1.雷達物位計
雷達物位計發射功率很低的極短的微波通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，最新的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
2.導波雷達物位計
導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉換成物位信號給出。由于測量原理簡單，可以不帶料調整，從而節省了大量調試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應現場的應用。對于蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質特性變化的影響，被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。粘附：沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。容器內安裝物如果采用同軸套管式的測量全不受容器內安裝物的影響，不需要特殊調試。