無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司的半導體控溫解決方案

主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，

?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。

【 冠亞制冷 】半導體行業主營控溫產品：

半導體專溫控設備

射流式?低溫沖擊測試機

半導體專用溫控設備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統

Chiller直冷型

循環風控溫裝置

半導體?低溫測試設備

電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源

射流式高低溫沖擊測試機

快速溫變控溫卡盤

數據中心液冷解決方案

-65℃~125℃循環風控溫裝置 FLT系列Chiller

-65℃~125℃循環風控溫裝置 FLT系列Chiller

射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環境溫度。

是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。

溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率?常快速，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；

實時監控被測IC真實溫度,實現閉環反饋，實時調整?體溫度升降溫時間可控，程序化操作、?動操作、遠程控制

　　冷熱循環沖擊測試機是用于測試集成電路在不同溫度下的性能和穩定性的設備，在選購冷熱循環沖擊測試機時，需要考慮以下幾個方面：

　　1、測試溫度范圍：根據需要測試的集成電路的類型和規格，確定所需的測試溫度范圍。一般來說，冷熱循環沖擊測試機的溫度范圍應該在-120℃到200℃之間，以滿足大多數半導體的測試需求。

　　2、溫度穩定性：溫度穩定性是測試系統的重要指標之一。冷熱循環沖擊測試機的溫度穩定性應該足夠高，以保證測試結果的準確性和可靠性。一般來說，溫度波動范圍應該在±1℃以內。

　　3、測試速度：測試速度也是需要考慮的因素之一。冷熱循環沖擊測試機的測試速度應該足夠快，以減少測試時間和提升效率。一般來說，冷熱循環沖擊測試機測試速度應該在每小時測試數百個樣品以上。

　　4、測試精度：冷熱循環沖擊測試機的測試精度應該足夠高，以保證測試結果的準確性和可靠性。一般來說，測試誤差應該在±1℃以內。

　　5、售后服務：在選購冷熱循環沖擊測試機時，需要考慮系統的品牌和售后服務。一般來說，品牌的系統質量和售后服務較好，但價格也會相應較高。因此，需要根據實際情況進行權衡。

　　6、預算：冷熱循環沖擊測試機的價格因品牌、性能和質量等因素而異，需要根據實際需求和預算進行選擇。

綜上所述，選購冷熱循環沖擊測試機需要考慮多個因素，包括測試溫度范圍、溫度穩定性、測試速度、測試精度、系統品牌和售后服務以及預算等。需要根據實際需求和預算進行綜合權衡，選擇適合自己需要的測試系統。