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Fischer X射線測厚儀 XDL220

1、菲希爾X射線測厚儀FISCHER代理特點

優化珠寶、錢幣和貴金屬的無損分析

固定光圈和固定濾光鏡，特別適用于貴金屬分析

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD) 的型號還適用于更復雜的多元素分析

由下至上的測量方向可以更簡便地實現樣品定位

2、無錫駿展儀器供應FISCHERSCOPE X-RAY XDL220典型應用領域

珠寶和鐘表行業中的黃金和貴重金屬分析

牙科合金分析

無錫駿展儀器供應熒光鍍層分析儀XDL 210特征:

• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。Z高工作條件:50KV,50W

• X射線探測器采用比例接收器

• 準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 ? 0.3 mm

• 基本濾片：固定或3個自動切換

• 測量距離可在0-80 mm范圍內調整

• 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺

• 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經過校準，顯示實際測量點大小。

• 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節