目錄:恒一精密儀器有限公司>>上海恒一硬度計/EVERONE>>顯微硬度計>> MH-500上海恒一高精度顯微硬度計
| 參考價 | 面議 |
參考價：￥ 面議
更新時間：2023-07-03 10:47:11瀏覽次數：1386評價
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| 測定材料 | 金屬硬度計 | 價格區間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器類型 | 臺式 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
| 產地 | 上海 |
一、上海恒一高精度顯微硬度計技術規格
| 顯微硬度計技術規格 | ||
| 型號 | MH-500 | |
| 載荷 | (A型)gf:10,25,50,100,200,300,500,1000 mN: 98.07 / 245.2 / 490.3 / 980.7 / 1961 / 2942 / 4903 / 9807 | |
| (B型)gf:25,50,100,200,300,500,1000，2000 mN:245.2 / 490.3 / 980.7 / 1961 / 2942 / 4903 / 9807 /19614 | ||
| 加載機構 | 自動加載和自動卸載50 -100μm/秒 | |
| 保壓時間 | 5 -99 秒 | |
| 塔臺機構 | 自動轉塔臺 | |
| 金剛石壓頭 | 維氏壓頭（可選裝努氏壓頭）/同一塔臺可同時安裝兩個壓頭 | |
| 操作面板 | 彩色觸摸屏面板 | |
| 物鏡 | 40x,10x(可選:20x,80x ) | |
| 放大倍數 | 用于測量:400x (物鏡40x和目鏡10x) | |
| 用于觀察:100x (物鏡10x和目鏡10x) | ||
| 測量目鏡 | 電子型10x | |
| 有效測量長度 | 900μm在100x下/230μm在 400x下 | |
| 最小測量單位 | 0.1μm (0.01μm在TS/CTS下) | |
| 允許試樣高度 | 90mm | |
| 允許試樣深度 | 110mm | |
| 可測試參數 | HV,HK | |
| X-Y載物臺 | 手動 | |
| 臺面尺寸 | 110x110mm | |
| 有效移動范圍 | 0-25mm（0-50mm可選配） | |
| 最小分度 | 機械式：1/100 mm（可選配:電子式1/1000mm） | |
| 照明 | LED冷光源 | |
| 通訊接口 | RS232/并行口 | |
| 打印輸出 | 測量數據和統計數據(最da值、最小值、偏差值、均方值、平均值、標準偏差） | |
| 精度 | 符合:JIS B-7735,ASTM E-384和ISO 146 | |
| 表面粗糙度 | Ra≤0.4 | |
| 硬度值轉換 | 符合中國GB/T 1172-1999 | |
| 照相裝置 | 可安裝攝像系統(選配) | |
| 尺寸 | W240xD470xH520mm | |
| 重量 | 約42Kg | |
| 電源 | 單相AC220V50/60 Hz | |
二、高精度顯微硬度計主要特點：
-高分辨率顯微鏡成像系統可清晰高襯度顯示出壓痕及樣品的金相組織；
-精密的機械結構，舒適精確的測量裝置，保證了測量的可靠性和重復性；
-自動轉塔臺提供快速簡潔的操作系列，只要按一下啟動鍵（START）便可以自動完成<物鏡→壓頭→加載→保載→卸載→物鏡>；
-能夠快捷簡單準確的測量材料維氏（HV）/ 努氏（HK）硬度值及轉換成HRC硬度值；
-操控面板功能：加載開始、零位設定、保載時間、燈光調節、轉換標尺、塔臺位置、數據處理（瀏覽 刪除 打印）、系統設置（測試條件 語言 通訊 工廠設置等）；
-塔臺機構可裝4個物鏡，除10倍和40倍標準配置以外，還可選配二個物鏡（5倍、20倍、80倍任選）；
-新型雙壓頭塔臺機構,可同時裝置顯微維氏和努氏測量的兩個壓頭，，在測量維氏和努氏硬度時不需要更換壓頭，此兩壓頭采用的獨立調中裝置，確保維氏和努氏壓痕都在中心位置；
-有CCD光學接口可連接電腦在顯示器上成像測量，并可打印非常清晰的照片及圖像；
-精度符中國計量檢定規程 JJG151-2006 ,GB/T4340.2-2012, ISO/din6507-2和日本工業標準JIS B-7735美國ASTM E-384。
三、標準配備：
X-Y 手動載物臺：1個 標準測試塊 （700HV1）：1個
標準測試塊（400HV0.2）：1個 測量顯微目鏡電子型 （10倍）：1個
金剛石壓頭HV（內裝）：1只 物鏡（10倍內裝）：1個
物鏡（40倍內裝）：1個 水平調整腳 ：4個
水平儀：1個 壓頭罩（內裝）：1個
儀器罩：1個 電源線 ：1個
輔助工具：1組 使用手冊：1本
附件箱1:個
四、上海恒一高精度顯微硬度計應用范圍：
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；
薄板、金屬薄片、電鍍層、微波試件；
碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度測量；
適用于平行平面和微波零件及超薄零件的精密維氏測量。
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