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ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統）
ZEM18臺式掃描電子顯微鏡參數
環境要求：AC 220V，50Hz，1kW，無需減震臺
加速電壓：3kV~18kV連續可調，1kV步進
電子槍：預對中鎢燈絲，一體式聚光鏡，無需手動調節物鏡光闌
放大倍數：500 --150000倍
探測器：二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀
樣品臺行程：XY 兩軸電動 行程：30 mm×30 mm
樣品尺寸：Φ50×35（H）mm
工作距離：5-35mm
真空模式
高真空模式：抽真空時間小于90s
低真空模式：選配，低真空1-100Pa自動控制
成像模式
視頻模式：512x 512像素，無需小窗口掃描；
快速模式：掃描時間小于3秒，512 x 512像素；
慢掃模式：掃描時間小于40秒，2048 × 2048像素；
圖像格式：BMP, TIFF,JPEG,PNG
導航功能：光學CCD導航
自動功能：一鍵自動配置亮度、對比度、聚焦
尺寸：主機283×553×505 mm 機械泵340×160×140 mm
拓展功能：兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統）
產品特色
操作簡便： 僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌
成像快速： 抽真空時間小于90s，
顯示流暢： 信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節
信號多樣： 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀等多種探測器。（SE+BSE模式：同時采集，任意疊加）
性能突出：加速電壓連續可調，選配低真空模式，適應多種類型樣品和原位測試功能
體積小巧：無需特裝設備間和額外減震臺，常規市電即插即用
原位拓展：豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺、加熱臺、TEC冷臺等）
售后無憂： 國內自主研發，提供完備的高性價比售后服務。廠家在北京、上海、安徽、東莞等多個辦事處提供樣機demo服務。
產品附件
(1)拉伸臺
技術參數
(2)TEC冷臺
技術參數
1、溫度范圍：-60℃--50℃
2、功率：~45W
3、控溫精度：±0.01℃
4、高精度溫控儀，搭配相應軟件，數據可一鍵導出
應用案例
原材料檢測 工業檢測
電子元器件檢測 其他樣檢測
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