澤攸STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統，原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06產品特點，真空腔體：真空度優于610-4 Pa。降溫后優于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研...
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統 參考價：面議
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統超低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統，使用氣體導熱隔震，實現樣品臺納米級的機械穩定性。為有效降低環境震動影響，產品設計安裝在光學隔震平臺...
澤攸手動探針臺系統 參考價：面議
澤攸手動探針臺系統，可定制手動探針臺系統，整套系統包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06產品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規、智能溫控儀等組成。
澤攸SEM納米探針臺 參考價：面議
澤攸SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運...
澤攸ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺 可以快速、準確、穩定、使用場景多樣化、完善的技術解決方案、直觀、方便、高度集成。
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿，多孔樣品桿使研究者們可以將三個樣品同時置入透射電鏡中，大大提高了透射電鏡的使用效率。
PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品桿，樣采用可伸縮的樣品桿端頭設計，從而實現將樣品從真空室或手套箱的真空環境下轉移到透射電鏡內的目的，避免樣品被大氣環境影響...
PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結構。
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿，同時具備β角傾轉以及360水平旋轉的功能，可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉樣品。
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量采用全新的O圈輔助密封設計,更易封裝液體。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統PicoFemto透射電鏡原位M。EMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 B...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-ST...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
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