光學測量系統在表面測量和坐標測量中有著廣泛的應用。這些系統速度快，分辨率高，可在非接觸和非破壞性模式下操作；這些方面對于未來的工廠至關重要。然而，光學測量往往是不可追溯的，由于被測對象和測量系統之間的相互作用的復雜性。該項目旨在改善測量基礎設施，以實現可追溯的工業三維粗糙度測量以及形狀和尺寸，并為最終用戶提供指導，從而支持尺寸測量在工業中的成功實施。

Sen far 旨在利用他在光學計量學方面的豐富經驗和他在工業市場的深厚知識，通過以下方式為這個項目做出貢獻：

向聯合會表達對粗糙度、波紋度、形狀或尺寸光學測量的需求
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提供測試測量的 S neox 系統使用共 聚焦 ， 人工智能焦點變化 和 干涉 技術給協會
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在 ISO 25178 標準化工作