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艾克賽普多通道光電器件測試解決方案
閱讀：366 發布時間：2024-8-13
隨著光通信行業的核心組件光模塊邁向800G/1.6T的時代，光模塊的通道數量逐漸增加，同時，隨著硅光技術的發展，器件密度也顯著提高。這為光電器件或硅光芯片的測試要求，比如激光器和調制器的LIV掃描測試帶來了更高的挑戰，需要測試設備具備更高的通道密度、更小的體積、更快的測試速度以及更高的測量精度。
一、20路并行使用的SMU源表需要占用多少體積?
二、PXI平臺-SMU源表
PXI平臺提供高精度和高通道密度的SMU源表，可以滿足硅光芯片和光電器件DC測試需求。結合配套的Optoelectronic Component Test Software，實現快速的測試開發和部署，加速產品上市時間。
三、PXI平臺-其他電學與光學儀表
PXI平臺同時支持豐富的光學儀器儀表，可覆蓋硅光芯片的典型測項。通過進一步的集成搭建更緊湊、高效協同的光模塊測試系統。
