SediGraph 粒度儀采用柔軟的 X 射線檢測顆粒的相對濃度,它的主要原理是利用顆粒對 X 射線的吸收量,正比于顆粒質量。
X 射線無論何時都無法照射到儀器的操作者,做到此取決于儀器內部的設計:測量室門的密封和開閉特性。 一個機械快門機構,當門被輕微打開 12 毫米時,立刻會激發機械快門遮擋住 X 射線進入測量室;同時儀器裝配的若干電子自鎖機構,用于切斷 X 射線源的供電。每當測量室門,儀器蓋板被打開時,立刻發揮作用。
提供商 |
麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司 | 下載次數 |
97次 |
資料大小 |
223.8KB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數 |
139次 |
13
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務