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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
Status Pro激光干涉儀
Status Pro激光干涉儀
產(chǎn)品范圍：
、Status Pro電子水平儀、Status Pro振動(dòng)儀、Status Pro、Status Pro測量套裝、Status Pro直線度激光測量系統(tǒng)、Status Pro垂直度測量系統(tǒng)
品牌介紹：
主要型號(hào)：
DMM-13
產(chǎn)品詳細(xì)介紹：
µLine激光干涉儀測量系統(tǒng)：
激光干涉儀中內(nèi)置補(bǔ)償單元
易編程的輸入和輸出端
溫度、氣壓和濕度傳感器與激光干涉儀之間是無線通信
測量速度高達(dá)6m/s
設(shè)計(jì)緊湊，便于攜帶 （攜帶箱尺寸：350 x 200 x 250mm）
二維90°角度器 （精度：5µm/m）
三維90°角度器 （精度：5µm/m – 同樣適用于直線度激光測量系統(tǒng)）
µLevel® - 電子水平儀測量系統(tǒng)：
μLevel是高精度的傾斜度測量系統(tǒng)：適用于測量機(jī)床平面的傾斜度。并且根據(jù)不同測量系統(tǒng)的需求，從手動(dòng)測量系統(tǒng)到差動(dòng)測量系統(tǒng)均可提供軟件支持。
電子水平儀測量系統(tǒng)的特點(diǎn)：
調(diào)試簡便
軟硬件均易于操作
可測量直線度以及平面度
可存儲(chǔ)999個(gè)測量數(shù)據(jù)
通過藍(lán)牙裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
明顯的硬件外形設(shè)計(jì)并且堅(jiān)固耐用
測量值的分辨率與測量值的重復(fù)測量性為1µm/m
額外的軟件測量系統(tǒng)與擴(kuò)充的參考電子水平儀
SPELECNIR是市場上*將近紅外光譜與電化學(xué)測量集成在一起的儀器，所有組件都完美匹配，其中電化學(xué)和光學(xué)測量可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺(tái)雙恒電位/恒電流儀。
該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨(dú)立使用。SPELECNIR可以與標(biāo)準(zhǔn)比色皿支架或光譜電化學(xué)測試池池一起使用，也可以配合DropSens測試池和絲網(wǎng)印刷電極一起使用。
主要特點(diǎn)
• DropView同時(shí)控制光譜與電化學(xué)測量
• 光譜信號(hào)與電化學(xué)測量同步采集
• 實(shí)時(shí)采集光譜，無延遲
• 暗譜與參考譜校正
• 計(jì)數(shù)、吸收率、透射率和反射率測量和計(jì)算
• 自動(dòng)和手動(dòng)快門控制
• 自由選擇積分時(shí)間
• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和分析
• 可分別提供光譜和電化學(xué)曲線相關(guān)信息
強(qiáng)大的的數(shù)據(jù)采集與結(jié)果處理
• 實(shí)時(shí)控制面板，可在電化學(xué)測量過程中隨時(shí)連續(xù)收
集生成的光譜。
• 特定波長下光譜與電化學(xué)曲線圖：電位吸收?qǐng)D，計(jì)時(shí)
吸收?qǐng)D和微分圖。
• 獨(dú)立收集每個(gè)光譜和電化學(xué)曲線的信息。
• 的EC范圍內(nèi)捕獲的光譜, 獲取與特定EC點(diǎn)相關(guān)
的光譜。
• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數(shù)據(jù)光譜）。
• 三維繪圖, 錄制實(shí)驗(yàn)影片。
• 所有數(shù)據(jù)均可導(dǎo)出Excel。
