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方阻計 四探針測試儀方阻計四探針法測試低阻材料方阻及電阻率，可以測試到1uΩ方阻值，采用AD芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動數據測量，系數補償，

參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量. 提供中文或英文語言版本

四探針測試儀方阻計 四探針測試儀適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表

用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品

參數資料

1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□   

2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數

5.電阻精度：≤0.3%

6.PC軟件界面：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率、電阻率、壓強等.

7.測試方式: 四探針測量（體電阻率）和四端法（接觸電阻測量）

8.壓力范圍：0-1000kg（0-4MPa）.

9. 樣品形狀為正方形（鍍金電極為5cm×5cm)，面積為25cm2（其他規格定制）

10.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗 lt;30W

11. 加壓方式：自動

12. 樣品高度量程和精度：高度測量范圍：0.001-10.001mm，測量分辨率0.001mm

13.溫濕度范圍：常溫-50度；濕度：20%-98%

14.恒壓時間：0-99.9S

15.標配標準件：a.標準校準電阻1個；b.標準高度校準件1個

16. 工作電源：220±10% 50HZ/60HZ

半導體材料電阻率的國際及國標測試方法有關規定設計。它主要由電器測量部份（主機）及四探針頭組成，需要時可加配測試架。

為減小體積，本儀器用同一塊數字表測量電流及電阻率。樣品測試電流由高精度的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。