近期，蔡司發布了全新的基于場發射掃描電鏡的原位實驗平臺，其通過全新開發的集成化的軟硬件系統，自動化的工作流程使用戶從傳統的艱難且可靠性低的原位測試實驗中*解放出來，可輕松的在拉伸/加熱環境下進行自動甚至無人值守的原位實驗。
為了使您更加深入的了解原位解決方案的應用，此次蔡司聯合牛津儀器，將分別從原位SEM成像和原位EDS/EBSD分析應用出發，并結合虛擬實驗操作展示，使您獲得第一手的，身臨其境的體驗。加入會議，了解更多有關蔡司原位實驗平臺解決方案的信息：
- 無人值守的自動化原位實驗工作流程技術細解
- 先進的自動化原位EDS和EBSD分析技術
- 原位實驗流程在線展示
主題：全自動原位拉伸/加熱成像與分析解決方案——蔡司場發射掃描電鏡原位實驗平臺
時間: 2022-6-29 14:00
語言：中文
主講人：高迪（蔡司中國顯微鏡資深應用專家）
碩士畢業于北京工業大學，2017年至今在蔡司顯微鏡部擔任應用技術專家，在電子顯微學及微納加工等相關領域有多年工作和學習經驗，為國內近百余客戶進行了應用培訓和成像演示工作，協助用戶解決SEM及FIB應用問題。熟悉SEM和FIB在材料科學、化學物理、半導體科學等領域的應用
主講人：陳帥（牛津儀器資深應用專家）
2015年3月畢業于日本京都大學材料工學專攻，獲工學博士學位，博士期間主要研究超細晶亞穩態奧氏體鋼的相變誘發塑性和馬氏體相變。畢業后先后在鋼鐵公司和材料分析公司從事鋼鐵產品開發以及高純材料分析等工作。2018年加入牛津儀器，主要負責EDS、EBSD、OP的推廣及技術支持。
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