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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0
閱讀：162 發(fā)布時間：2021-4-1| 提 供 商 | 秋山科技（東莞）有限公司 | 資料大小 | 47KB |
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| 資料類型 | JPG 圖片 | 瀏覽次數(shù) | 162次 |
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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0
特征
光線控制 : 平行光。Work Distance 可變化。通過X-Y 2軸進(jìn)行照明、從而實(shí)現(xiàn)了檢測感度的提升。大尺寸檢測物體亦可對應(yīng)。尺寸可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制。
用途
向透明被檢物體照射水平方向光、當(dāng)光線遇到表面?zhèn)邸?/span>內(nèi)部異物時，通過反射光檢測出來。微小異物亦可檢測。z適合于玻璃、鏡片、濾光片等透明物體的外觀異常檢查。
檢出傷痕的原理
| 下圖是檢出傷痕的原理。下圖是實(shí)際看到的傷痕。 |
| 本光源僅僅將被照射的傷痕。 |
| 異物等異常所產(chǎn)生的折射、反射，傳達(dá)到眼部， |
| 對外觀異常的觀察具有明顯效果。 |