化工儀器網
資料下載
日本snk表面附著異物可視化技術
閱讀：101 發布時間：2021-1-6| 提 供 商 | 秋山科技（東莞）有限公司 | 資料大小 | 21.4KB |
|---|---|---|---|
| 資料圖片 | 下載次數 | 0次 | |
| 資料類型 | JPG 圖片 | 瀏覽次數 | 101次 |
| 免費下載 | 點擊下載 |
日本snk表面附著異物可視化技術
細顆粒可視化技術可用于以高靈敏度檢測光滑表面上的顆粒。另外，通過可視化由顆粒成分引起的熒光，可以每天處理表面異物和污垢。
如何使用散射光
高靈敏度細顆粒可視化技術是一種捕獲移動的細顆粒的散射光的技術。使用相同的原理，可以高靈敏度地移動產品時檢測表面上的異物和微弱的散射光。當使用激光時，它只能應用于光滑的產品，但是即使在施加張力的位置（例如薄膜），也可以通過可視化檢測到。
如何一起使用熒光
附著在表面的異物和污垢可能會使從該組件發出的熒光返回。為了澄清熒光色，有必要設計要照射的光，但是如果使用特殊的濾光片將散射光截斷，則表面上的異物將非常鮮艷并且易于觀察。無論表面光滑度如何，此方法都可以在光線到達時可視化。可以免費租用“ D Light”（約2天）。請借此機會嘗試一下。