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用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410
閱讀：2092 發(fā)布時(shí)間：2021-1-15用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410
總覽
高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)工作，并且只需將與顯示單元分開的測(cè)量單元應(yīng)用于被攝體即可進(jìn)行測(cè)量。使用近紅外線作為光源，并測(cè)量了1000的光澤度（鏡面反射率100％）。
無(wú)需預(yù)熱。對(duì)于需要高表面光澤度的產(chǎn)品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復(fù)印機(jī)的反光器和硅片）的質(zhì)量控制而言，它是理想的選擇。
特征
- 甚至在金屬等高光澤區(qū)域
也可以量化“模糊度” IG-410可以測(cè)量金屬等高光澤區(qū)域，是光澤度檢查儀IG系列的新產(chǎn)品。測(cè)量范圍是0到100，是傳統(tǒng)型號(hào)的10倍。也可以測(cè)量鏡面樣品。 - 緊湊輕巧的設(shè)計(jì)，易于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量
重量?jī)H為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)以方便測(cè)量。
由于將LED用作光源，因此無(wú)需擔(dān)心光源的壽命。 - 可以通過(guò)
在2個(gè)范圍之間切換來(lái)測(cè)量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個(gè)范圍之間切換。每個(gè)范圍都帶有自己的校準(zhǔn)板。
IG-410不僅可以測(cè)量高光澤度金屬，還可以測(cè)量低光澤度區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。
應(yīng)用實(shí)例
- 用于檢查金屬產(chǎn)品表面狀況的光潔度
- 用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀
- 用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀
- 用于檢查硅片的表面光潔度
*由于光澤度是通過(guò)光的反射來(lái)測(cè)量的，因此測(cè)量點(diǎn)必須平坦。
規(guī)范
光學(xué)系統(tǒng) | 入射角60°-接收角60° |
測(cè)量面積 | 3 x 6毫米橢圓 |
光源 | LED（波長(zhǎng)890nm） |
受光部 | SPD（硅光電二極管） |
測(cè)量范圍 | 100范圍： |
重復(fù)性 | 滿量程的±1％ |
電源供應(yīng) | AA干電池x 4 |
電池壽命 | 200小時(shí)以上（使用堿性干電池） |
工作溫度極限 | 10-40℃ |
尺寸 | 機(jī)身：75W x 34D x 140H mm |
大眾 | 約350g（帶內(nèi)置電池） |
其他功能 | 自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)關(guān)機(jī) |
配件 | 用于100和1000量程的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)板 |