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掃描電化學顯微鏡（SECM）主要功能及特點
Bsae-SECM 是一套致力于研究的掃描電化學顯微鏡，技術源于德國波鴻魯爾大學Schuhmann 教授課題組。Base-SECM 標準配置的功能已然十分強大，能滿足絕大多數研究的需要。在這基礎上，用戶還可以購置不同的功能模塊，以滿足特殊的研究需要。
掃描電化學顯微鏡（SECM）主要技術參數
定位系統：XYZ 步進控制系統
動態范圍：25x25x25 mm（其他范圍可選）
大線掃速率：10mm/s
分辨率：20nm
掃描模式
Feedback Mode 反饋模式
GC Mode 產生收集模式
Direct Mode 直接模式
AC-SECM 微區阻抗模式
4D 模式
Shearforce剪切力模式
探針掃描：
2D 掃描
3D 掃描
等間距掃描
快速等間距掃描
預設掃描
自編輯電化學程序掃描
掃描電化學顯微鏡（SECM）應用領域
電化學動力學研究
吸附/脫附現象和溶解過程的研究
液/液界面，液/氣界面，液/固界面以及重要的生物過程
局部腐蝕過程觀測
催化劑活性評價
傳感器表面活性成像
局部阻抗分析
生物膜酶活性研究
微納米尺度的金屬顆粒沉積(恒電流或無電沉積)
在水或有機溶液中材料表面上導電聚合物局部沉積
電化學刻蝕
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