眾測(cè)機(jī)電研發(fā)生產(chǎn)的研發(fā)生產(chǎn)的LEAK-M西林瓶真空衰減法包裝完整性測(cè)試儀是一種新型的西林瓶包裝完整性檢測(cè)儀器，也稱為西林瓶密封測(cè)試儀、西林瓶密封性檢測(cè)儀和西林瓶真空衰減法測(cè)試儀等，本檢測(cè)設(shè)備不同于負(fù)壓法和正壓法，真空衰減法可以對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)損傷泄漏檢測(cè)，也就是說(shuō)經(jīng)過(guò)此款儀器測(cè)試的樣品仍然可以繼續(xù)使用，避免了不必要的浪費(fèi)。
西林瓶真空衰減法包裝完整性測(cè)試儀
LEAK-M西林瓶真空衰減法包裝完整性測(cè)試儀適用于藥品包裝中的安瓿瓶、西林瓶注射劑瓶、預(yù)灌封等包裝樣品，采用非破壞性測(cè)試方法，也可以鑒別大漏孔樣品，并給出合格與不合格的判斷。本檢測(cè)儀器滿足ASTM F2338《使用真空衰變法無(wú)損檢驗(yàn)包裝緊密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》、USP 1207等標(biāo)準(zhǔn)。
下面，眾測(cè)機(jī)電詳細(xì)介紹下西林瓶密封性測(cè)試方法有什么區(qū)別：
1、西林瓶密封正壓測(cè)試法：在被測(cè)物上打孔，向其中沖入氣體，并放入水中，通過(guò)觀察保壓過(guò)程中是否有氣泡冒出觀察是否有泄露點(diǎn)。
相關(guān)儀器： 泄漏與密封強(qiáng)度測(cè)試儀LSST-01?
優(yōu)點(diǎn)：成本低，行業(yè)接受度高；
缺點(diǎn)：破壞性測(cè)試；測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不具備可操作性；無(wú)法判斷微孔泄露；另外，每個(gè)試樣進(jìn)行破壞性實(shí)驗(yàn)，只能進(jìn)行前期的研究用，不適用于產(chǎn)品出廠檢驗(yàn)。
2、西林瓶密封負(fù)壓檢測(cè)法：將試樣放水中，抽真空后通過(guò)對(duì)測(cè)試物上有無(wú)氣泡冒出，或者真空還原后水汽是否進(jìn)入測(cè)試物來(lái)判斷是否泄露。
相關(guān)儀器：密封測(cè)試儀LEAK-01
優(yōu)點(diǎn)：結(jié)果可見(jiàn)，使用廣泛，行業(yè)接受度高。
缺點(diǎn)：破壞性測(cè)試，容易受主觀因素影響；難以判斷微孔。如果遇到5um的微孔時(shí)，人員很難觀察到液體的滲入,從而產(chǎn)生誤判。而且經(jīng)過(guò)此密封測(cè)試后樣品無(wú)法再次使用。
3、西林瓶真空衰減測(cè)試法：將式樣放入標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試腔，通過(guò)抽真空后壓力變化與標(biāo)準(zhǔn)樣壓力變化曲線重合性進(jìn)行判斷。
相關(guān)儀器：真空衰減法測(cè)試儀
優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試便捷快速，可溯源；可重復(fù)；無(wú)損檢測(cè)；人為因素小；靈敏度高；定量測(cè)試；更易檢測(cè)更小漏孔。
缺點(diǎn)：儀器成本高。
從以上內(nèi)容，可以看出西林瓶密封測(cè)試負(fù)壓法和正壓法成本低，但是對(duì)于試樣、產(chǎn)品都具有破壞性，而真空衰減法測(cè)試儀是有效、直觀、高效的檢漏法，樣品經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)后并不會(huì)受到污染，可正常使用。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
6
立即詢價(jià)
您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)