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DRK2643型超高阻微電流測(cè)試儀簡(jiǎn)介
閱讀：155 發(fā)布時(shí)間：2023-5-22| 提 供 商 | 山東德瑞克儀器股份有限公司 | 資料大小 | 470.3KB |
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基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
DRK2643型超高阻微電流測(cè)試儀（高阻型體電阻率表面電阻率測(cè)試儀）是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體片狀、薄膜狀或液體類導(dǎo)靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置，也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用。該儀器設(shè)計(jì)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。