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產品簡介
高光譜成像同時兼備*的光譜分辨率和圖像空間分辨率。功能上高速光譜掃描和成像、定位同步實現；光譜掃描范圍覆蓋可見光、近紅外一區及二區；成像與定位包含熒光、電致發光、光致發光、透射、反射等多種成像模式。IMA™ *的高通量全視野濾玻技術，把光譜掃描模式帶入到全視野面掃描時代，掃描速度有了質的飛躍。
詳細介紹
高光譜成像介紹：
高光譜成像同時兼備*的光譜分辨率和圖像空間分辨率。功能上高速光譜掃描和成像、定位同步實現；光譜掃描范圍覆蓋可見光、近紅外一區及二區；成像與定位包含熒光、電致發光、光致發光、透射、反射等多種成像模式。IMA™ *的高通量全視野濾玻技術，把光譜掃描模式帶入到全視野面掃描時代，掃描速度有了質的飛躍。
IMA™高光譜顯微成像系統為眾多領域的研究提供了切實可靠的方法學.
- 進行復雜的材料的分析，如太陽能電池表征和半導體質量控制(例如: 鈣鈦礦, GaAs, SiC, CIS, CIGS, 等)；
- 暗場掃描與追蹤，透明樣本和未染色樣品(如聚合物、晶體或活細胞)的比對；
- 研究包括活細胞和組織在內的復雜環境中的紅外標記與應用。如:近紅外二區熒光探針的特殊光譜特性及其相關應用研究。
