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DSA8200 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現(xiàn)異常準確的器件檢定，全面支持 光通信 標準、時域反射計和 S 參數(shù)。DSA8300 數(shù)字采樣示波器為 155Mb/s - 400G PAM4 的數(shù)據(jù)通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
Tektronix泰克DSA8200示波器
產(chǎn)品信息：
DSA8200 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現(xiàn)異常準確的器件檢定，全面支持 光通信 標準、時域反射計和 S 參數(shù)。DSA8300 數(shù)字采樣示波器為 155Mb/s - 400G PAM4 的數(shù)據(jù)通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
特點：
電氣模塊信號測量精度：
超低系統(tǒng)抖動（<100 fs，典型值）
> 70GHz
在所有帶寬上實現(xiàn)業(yè)內較低的系統(tǒng)噪聲：
600 µV（典型值 450 µV）@ 60 GHz
380 µV（典型值 280 µV）@ 30 GHz
單臺主機內多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。
光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網(wǎng)所有標準速率的光一致性測試。
優(yōu)異的采集吞吐量，采樣率 300 kS/s。
能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。
獨立的已校準通道相差校正。
優(yōu)勢：
<100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4´25) Gb/s）設備進行檢定，典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數(shù)據(jù)速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數(shù)據(jù)速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波）。
較大程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。
多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統(tǒng)的測試吞吐量。
為單模和多模光標準提供經(jīng)濟實惠、功能多樣的光測試系統(tǒng)，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網(wǎng)）和 100 Gb/s 以太網(wǎng)（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。
通過優(yōu)異的系統(tǒng)吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。
遠程采樣頭較大程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統(tǒng)的反嵌。
雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的信號保真度。
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