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涂鍍層厚度測量儀 參考價：面議
涂鍍層厚度測量儀X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。X射線的能量穿過金屬鍍層的同時，金屬元素其電子會反射其穩定的能量波譜。通過這樣的原理，我們設計出：膜厚測...
無損無接觸測量厚度測量儀 參考價：面議
無損無接觸測量厚度測量儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用...
單層/多層厚度測量儀 參考價：面議
單層/多層厚度測量儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂...
光學無接觸膜厚厚度測量儀 參考價：面議
光學無接觸膜厚厚度測量儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用...
厚度精準定位小點測量膜厚儀 參考價：面議
厚度精準定位小點測量膜厚儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利...
微小區域薄膜厚度測量儀 參考價：面議
微小區域薄膜厚度測量儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散...
臺式膜厚測量儀 參考價：面議
臺式膜厚測量儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線...
高性價比膜厚測量儀 參考價：面議
高性價比膜厚測量儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X...
XRF測厚儀 電鍍層鍍層膜厚儀 參考價：面議
XRF測厚儀 電鍍層鍍層膜厚儀我們的產品是利用熒光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置...
X-RAY測厚儀 電鍍層鍍層膜厚儀 參考價：面議
X-RAY測厚儀 電鍍層鍍層膜厚儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢...
鍍層膜厚儀 參考價：面議
鍍層膜厚儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。
測量鍍層厚度儀器設備 參考價：面議
測量鍍層厚度儀器設備高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件...
鍍鎳測厚儀 參考價：面議
PCB電路板鍍金厚度檢測儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的...
鍍金測厚儀 參考價：面議
XTU-4C專業性能型膜厚儀下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定...
金屬鍍層測厚儀 參考價：面議
XTU-4C專業性能型膜厚儀下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定...
天瑞電鍍金屬厚鍍分析 參考價：面議
XTU-4C專業性能型膜厚儀下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定...
X射線鍍層厚度分析儀 參考價：面議
XTU-4C專業性能型膜厚儀下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定...
x射線電鍍測厚儀 參考價：面議
PCB電路板鍍金厚度檢測儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的...
上海X射線鍍層測厚儀 參考價：面議
PCB電路板鍍金厚度檢測儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的...
金屬鍍層測厚儀廠家 參考價：160000
PCB電路板鍍金厚度檢測儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的...
供應天瑞X射線鍍層測厚儀 參考價：面議
PCB電路板鍍金厚度檢測儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的...
X射線測厚儀 參考價：面議
PCB電路板鍍金層厚度檢測儀下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定...
X射線熒光測厚儀 參考價：面議
XTU-4C專業性能型膜厚儀下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定...
XRF電鍍層測厚儀 參考價：面議
XRF電鍍層測厚儀高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。
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