1.XRF6C能量射線熒光分析儀特點

（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測定有初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可以對試樣進行多元素快速分析。

• 優良多光束可調系統；
• 高分辨率SDD 硅漂移探測器；
• 快速定性分析；
• 完善的輻射安全防護；
• RoHS/WEEE 指令元素快速分析；
•  內標法與基本參數法組成強大定量分析方法群；
•  內置各類標準樣品曲線數據庫。

2.XRF6C能量射線熒光分析儀參數

• 元素分析范圍：AI-U
•  含量分析范圍：1ppm~99.99%
• 重復性：＜5%
• 測量時間：一般60~300s
•  測量對象：塊狀物體、粉末、液體
•  激發功率：50W
• 探測器分辨率：149gev
• 輸入電源：AC110V/220V
•  高壓電源：0~50kv/0~1mA
• X射線輻射劑量：≤1Sv/h

3.XRF6C能量射線熒光分析儀部分元素低檢出限

代表性元素120s低檢出限LOD(mg/kg)

性能指標