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分辨場發射掃描電子金屬顯微鏡"Regulus系列"繼承了現有機型的觀察和分析性能，配備SU8200系列的低噪音冷場發射電子槍*1，可以獲得高穩定的束流。

分辨場發射掃描電子金屬顯微鏡通過優化電子光學系統，Regulus8240/8230/8220在1 kV條件下分辨率提高到0.7 nm，Regulus8100的分辨率提高到0.8 nm。

此外，為充分發揮超高分辨的能力，放大倍率也從過去的100萬倍提升到200萬倍*1。
Regulus8240/8230/8220/8100還完善了用戶支持功能，通過此功能用戶更容易理解各種復雜信號的檢測原理，幫助用戶充分發揮儀器的佳性能。

• 沿用"SU8200系列"的冷場發射電子槍*2

• 采用電子束在Flashing后出現的高亮度穩定區域作為穩定觀察的區間，使得低加速電壓條件下兼備高分辨觀察和分析的佳性能
  (Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)

• 采用污染小、高真空樣品倉

• 運用能量過濾器(選配)，可觀察到多種成分對比度*2

極低著陸電壓下高分辨觀察

樣品：金顆粒
著陸電壓：10 V

超高分辨觀察

樣品：Pt催化劑
加速電壓：30 kV

低加速電壓下高分辨EDX分析

樣品：Sn球
著陸電壓：1.5 kV