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詳細(xì)摘要： 此次推出的SU7000采用全新設(shè)計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。

詳細(xì)摘要： 對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。

詳細(xì)摘要： 在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，SEM在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。SEM用途日益擴(kuò)大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車...

詳細(xì)摘要： 為熒光分光光度計的配件系統(tǒng)，這是將相機(jī)與熒光分光光度計的結(jié)合，融合了智能算法的*技術(shù)。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息。

詳細(xì)摘要： 日立熒光分光光度計F-4700是在前代機(jī)型F-4600的基礎(chǔ)上更新升級，基本性能得到了進(jìn)一步提升。靈敏度和波長掃描速度是選擇熒光分光光度計的兩個重要因素，F(xiàn)-4...

詳細(xì)摘要： 1.190~3300nm的寬波長，支持紫外-可見-近紅外區(qū)，滿足更多測定需求。 2.秉承日立優(yōu)異的光柵制造技術(shù)，使用具有日立蝕刻衍射光柵，衍射效率高，散射光量低...

詳細(xì)摘要： 創(chuàng)新的Agilent Cary 3500 紫外-可見分光光度計具有優(yōu)異的光度測量性能和眾多*的測量功能，將為您的實驗室?guī)碜兏铩Ｈ碌脑O(shè)計理念，旨在有效簡化您的...

詳細(xì)摘要： Agilent 7850 ICP-MS 是建立在數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新和成功商業(yè)應(yīng)用基礎(chǔ)上，儀器內(nèi)置上百個傳感器并配合直觀的軟件功能，是全新一代智能化 ICP-MS ...

詳細(xì)摘要： 日立偏振塞曼原子吸收分光光度計,創(chuàng)新永無止境!ZA3700系列是一款新型石墨爐原子吸收分光光度計，在確保基本性能（例如：高精度和高靈敏度）的前提下，采用其他原子...

詳細(xì)摘要： 自1962年日立開發(fā)出第一代KLA型氨基酸分析儀以來，經(jīng)過56年的時間，歷經(jīng)KLA型、KLA-5型、835型、L-8500型號、L-8800型號、L-8900六...

詳細(xì)摘要： Vulcan 是一款耐用且分析速度極快的合金分析儀。扣扳機(jī)后一秒即會顯示結(jié)果。且產(chǎn)品使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù) （LIBS），您無需擔(dān)心X射線的影響。無論您的業(yè)務(wù)...

詳細(xì)摘要： 我們的DSC（差示掃描量熱儀）被廣泛用于材料表征。 例如熔點，玻璃化轉(zhuǎn)變，結(jié)晶。 DSC600被廣泛用于包括聚合物，制藥，化學(xué)，石油和天然氣，食品和金屬等行業(yè)的...

詳細(xì)摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結(jié)構(gòu)，消除了受加熱爐溫度變化影響而導(dǎo)致的微小重量誤差，讓基線穩(wěn)定性水平遠(yuǎn)超日立原有產(chǎn)品。在加熱爐內(nèi)未放置試樣...

詳細(xì)摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化...

詳細(xì)摘要： XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量...

詳細(xì)摘要： XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量...

詳細(xì)摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化...

詳細(xì)摘要： 概要：對應(yīng)環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡單測量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀。

詳細(xì)摘要： 微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供...

詳細(xì)摘要： 束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易...