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賽默飛攜旗下新半導體解決方案亮相SEMICON CHINA 2019
閱讀：814 發(fā)布時間：2019-3-212019年3月21日，賽默飛亮相于上海舉辦的SEMICON CHINA 2019展會，現(xiàn)場發(fā)布展示了其新一代的產品及半導體綜合解決方案，新品致力于提高工廠及分析性實驗室效率，進一步助力中國半導體事業(yè)的發(fā)展。
自2014年6月《國家集成電路產業(yè)發(fā)展推進綱要》正式發(fā)布，中國的半導體行業(yè)拉開了高速發(fā)展的序幕。近年來，應用可編程芯片(FPGA)、人工智能云端以及邊緣運算端芯片等一系列前沿技術的半導體新產品開發(fā)正如火如荼地進行——半導體產業(yè)的技術節(jié)點也在不斷提高，實現(xiàn)更先進的制程工藝、更高的良率、更大的產能成為半導體行業(yè)迫切需要面對和解決的問題。賽默飛中國區(qū)總裁艾禮德（Tony Acciarito）表示：“新興技術市場趨勢以及政策支持正為中國半導體和電子科技產業(yè)帶來了的機遇，秉持‘扎根中國、服務中國’的發(fā)展戰(zhàn)略，我們期待利用自身在半導體行業(yè)的豐富經驗及優(yōu)勢，攜手本土合作伙伴，共同推動中國半導產業(yè)的發(fā)展和創(chuàng)新。”
在此次SEMICON CHINA 2019上，賽默飛從多個維度綜合展現(xiàn)了其在實驗室方案、失效分析、環(huán)境分析以及生產支持方面的綜合能力以及一體化解決方案。其中以Thermo Scientific™ Helios 5為代表的一眾新品，也通過SEMICON CHINA 2019這個的平臺次在中國與業(yè)界的朋友們見面。
近幾年來，半導體工業(yè)已經普遍接受使用ELITE (Enhanced Lock In Thermal Emission) 實現(xiàn)電性失效分析定位的工作。ELITE具有的靈敏度，可以幫助傳統(tǒng)EMMI / OBIRCH 檢測的不足。ELITE 還可以作為非破壞性檢測，對于封裝后的元件，分析失效點深度的位置。除了先進制程和封裝的需求，針對功率元件在車用電子的應用，ELITE還支持高電壓的測試。
Thermo Scientific™ Nicolet™ iG50 FT-IR 光譜儀
賽默飛Nicolet旗下 iS50/iG50 系列硅片分析系統(tǒng)為硅片的研究或者大規(guī)模制造的質量控制提供了靈活強大的解決方案。 Nicolet iS50/iG50 系列硅片分析系統(tǒng)主要可以應用于氧、碳含量分析以及外延層 （EPI） 厚度測量。除此之外，iS50/iG50還可以應用于鈍化層分析，例如：PSG、BSG、PBSG 中 PB 含量、Si中H的含量測定以及FSG。
Thermo Scientific™ Nicolet™ iN10 光譜儀
賽默飛Nicolet旗下 iN10是一種直觀、創(chuàng)新、集成的一體化傅里葉變換顯微紅外光譜儀，具有安裝簡便、性能、光譜質量高的特點。Nicolet iN10 顯微紅外光譜儀在半導體微電子領域主要應用于：固化膠的固化率測定、電子材料的分析與表征、顯示材料的剖析與表征以及異物分析。
Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS
支持三重四極桿技術的 Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS 是一種高性能 ICP-MS，適用于在與半導體行業(yè)相關的多種挑戰(zhàn)性基質中進行痕量元素超痕量定量檢測。在不犧牲其作為靈敏、易用的工作臺儀器所具備的檢測能力的前提下，具有三重四極桿技術出色的干擾去除能力，可更好地對各種具挑戰(zhàn)性的基質中的元素雜質進行檢測。由于 iCAP TQs ICP-MS 占地面積小，加上具有簡化的工作流程并支持自動化方法開發(fā)而特別易于使用，使其成為用于確保關鍵生產工藝一致性和提高半導體硅片加工產量而進行在線質量控制的理想檢查工具。
Thermo Scientific™ NESLAB ThermoFlex 系列
性能可靠的多用途制熱/冷卻恒溫循環(huán)器，可為需要的小型實驗室到大型工業(yè)過程，提供制熱/冷卻恒溫循環(huán)的關鍵應用，高可達24000瓦的制熱/冷卻恒溫循環(huán)能力。本產品提供創(chuàng)新平臺，可配置的設計，易于操作，以及的性能。