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 鄰苯二甲酸酯檢測儀1是電工委員會(IEC)制定的關于電子電氣產品中限用有害物質的測試方法。IEC 62321: 2008是一個‘獨立’的標準，其中包括介紹，測試方法，機械制樣的概述，以及各種測試方法的條款。2013年5月17日開始將IEC 62321: 2008拆分為一系列標準，同時導入新的測試方法或儀器。

 鄰苯二甲酸酯檢測儀1新更新系列標準

2017年

●  IEC 62321-7-2

   通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻

   主要變化：采用有機溶劑從樣品中提取六價鉻

● IEC 62321-8

   通過GC-MS或Py/TD-GC–MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯

   主要變化：新增章節，針對7項鄰苯提出兩種測試方法

待發布系列標準

2017年

● IEC 62321-4 am1 1.0

   使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞

●  IEC 62321-9 1.0

   通過HPLC-MS測定高分子材料中的六溴環十二烷

2018年

●  IEC 62321-3-2 2.0

   使用C-IC對聚合物和電子產品中的氟、溴、氯進行篩選

●  IEC 62321-3-3 1.0

   使用PY-GC-MS、TD-GC-MS對聚合物中的多溴聯苯、多溴二苯醚、特定鄰苯二甲酸鹽進行篩選

●  IEC 62321-10 1.0

   通過GC-MS測定聚合物和電子材料中的多環芳烴

注: C-IC  燃燒離子色譜法            

      PY-GC-MS   熱裂解氣相色譜質譜聯用儀

      IAMS  離子附著質譜法                 

      TD-GC-MS   熱脫附氣相色譜質譜聯用儀  

已更新系列標準

2013年

●  IEC 62321-1  

   簡介和概述

   主要變化：基本*

●  IEC 62321-2   

   樣品的拆卸、拆解和機械拆分

   主要變化：基本*

●  IEC 62321-3-1  

   電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴的篩選

   主要變化： 基本*

● IEC 62321-3-2  

   使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選

   主要變化： 2013版增加了新的方法（C-IC）

●  IEC 62321-4    

   使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞

   主要變化：2013版增加了新的方法（熱解析金汞齊化系統）

● IEC 62321-5     

   使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物和電子材料中的汞、鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛

   主要變化：2013版增加了總鉻的測試要求及新的檢測方法（AFS）

2015年

● IEC 62321-6  

   使用GC-MS、IAMS和HPLC測定聚合物和電子材料中的多溴聯苯和多溴二苯醚

   主要變化：2015版增加了新的檢測方法（IAMS/HPLC）

● IEC 62321-7-1 

   通過比色法測定金屬無色和有色防腐鍍層中六價鉻

  主要變化：關于六價鉻的前處理及上機測試部分未做改動，對結果的陰性陽性判定基準改為小于0.1μg/cm2陰性、大于0.13μg/cm2陽性、

   0.1μg/cm2~0.13μg/cm2不確定

GC-MS 6800是天瑞儀器精心打造的一款高性價比氣相色譜質譜聯用儀，具有*的自主知識產權，擁有多項技術，可廣泛應用于工業檢測、食品安全、環境保護等眾多領域。