目錄:聯(lián)合光科技（北京）有限公司>>測量儀器>>光學(xué)器件性能檢測儀器>> 750173 750174平面元件波前測量儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
全歐光學(xué)WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡，非球面透鏡和光學(xué)系統(tǒng)的波前測量，集成了準(zhǔn)直系統(tǒng)，擴(kuò)束或縮束系統(tǒng)，高精度樣品臺，多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理，用于平面、球面、非球面面型的檢測，光學(xué)系統(tǒng)像差檢測，輸出激光光束質(zhì)量檢測，光束動態(tài)變化檢測，自適應(yīng)系統(tǒng)波前的探測，并有針對大口徑光學(xué)和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠(yuǎn)心鏡頭的全場波前，還可給出被測樣品的面型（PV和RMS），澤尼克系數(shù)（Zernike），點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF），調(diào)制傳遞函數(shù)，斯特列爾比，楔角。同時(shí)，該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測，晶體低階和高階的相差，晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF），晶體的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF），晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能，簡單易用，用戶可根據(jù)需要進(jìn)行選擇。
WaveMaster® PLAN適用于使用夏克哈特曼傳感器的波前分析對平面進(jìn)行質(zhì)量檢查。
產(chǎn)品特點(diǎn)
平面光學(xué)元件的綜合波前分析
快速簡便的測量：手動放置樣品，并通過X-Y表進(jìn)行調(diào)整
通過抗振結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定且與環(huán)境無關(guān)的測量系統(tǒng)
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