智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品說(shuō)明

一、概說(shuō)
　　
　　智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印，使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。SXJS-IV體積小、重量輕，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
　　
　　二、技術(shù)指標(biāo)
　　
　　1、環(huán)境溫度：0~40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照）
　　
　　2、相對(duì)濕度：30％~70％
　　
　　3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50±1Hz
　　
　　4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=4900mm×300mm×390mm
　　
　　5、重量：約18kg
　　
　　6、輸出功率：1KVA
　　
　　7、顯示分辨率：4位
　　
　　8、測(cè)量范圍：
　　
　　介質(zhì)損耗（tgδ）：0-50％
　　
　　電容容量（Cx）和加載電壓：
　　
　　2.5KV檔：≤300nF（300000pF）
　　
　　3KV檔：≤200nF（200000pF）
　　
　　5KV檔：≤76nF（76000pF）
　　
　　7.5KV檔：≤34nF（34000pF）
　　
　　10KV檔：≤20nF（20000pF）
　　
　　9、基本測(cè)量誤差：
　　
　　介質(zhì)損耗（tgδ）：1％±0.07％（加載電流20μA~500mA）正接
　　
　　介質(zhì)損耗（tgδ）：2％±0.09％（加載電流5μA~20mA）反接
　　
　　電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF
　　
　　關(guān)鍵詞：智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀，智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀，智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀
　　
　　三、結(jié)構(gòu)
　　
　　儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量對(duì)無(wú)需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。