Leica EM RES102離子減簿儀

使用徠卡 EM RES102，使您的樣品具備高水平的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結構。*的離子束研磨系統結合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。

各種樣品架可以進行多元化應用。除了高能量的離子銑工藝，徠卡EM RES102也可適于采用低離子能量處理非常柔軟的樣本。

高效并節約成本

• TEM，SEM和LM應用功能集于一體
• SEM樣品制備大可達25mm樣品直徑
• TEM樣品制備獲得的薄區大，有效提高了TEM樣品制備效率
• 局域網功能方便遠程操控

安全

離子源和樣品運動馬達驅動，程序化控制，因而可獲得重復性制樣結果

保持樣品原生態

LN₂樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優化條件下進行離子研磨

操作簡便

• 內置應用參數庫  
• 幫助文件幫助初學者以及對設備進行維護

TEM或SEM樣品制備 – 在于您的選擇

為了支持多樣化的應用需求，Leica EM RES102 可以裝配各種樣品臺以適用于TEM，SEM及LM樣品制備。預抽室系統實現樣品快速交換，從而可有效提高樣品交換效率 。

SEM

斜坡切割樣品臺適用于切割樣品獲得縱截面(90°)或斜截面(35°)，便于SEM觀察樣品內部縱向結構，可以在環境溫度下或 LN₂ 制冷情況下使用。

該樣品臺適用于SEM和LM樣品的離子束清潔，拋光和襯度增強，可在環境溫度下或 LN₂制冷情況下使用。SEM樣品臺可以制備大尺寸達 25mm 的樣品。適配器用于夾持商品化生產的帶有3.1mm直徑插針的SEM樣品座。

薄片樣品臺用于夾持大尺寸為5(H)×7(W)×2(D) mm樣品。該樣品臺可以很方便地被直接轉移進SEM中，而不需要取出樣品。

TEM

TEM樣品夾用于單面或雙面離子束減薄，減薄角度可低至4°。

TEM冷凍樣品夾具與LN₂制冷裝置聯用，用于制備溫度敏感型樣品。

FIB清潔樣品臺用于清潔FIB樣品，減少表面無定形非晶層。