Leitz Reference Xi高性能掃描測量機

將Leitz高性能的掃描技術應用于新型Leitz Reference Xi，提供了豐富的測量選擇：從連接自動旋轉測座TESASTAR-m的LSP-X1掃描探測系統，到配備固定式掃描探測系統LSP-X3c 一直到LSP-X5，能夠在配備加長探針的情況下保持高精度。

在各種配置下提供一如既往的高精度 - 無論是分度還是固定式探測系統。通過配備支持多測頭的控制器，Leitz Reference Xi系列測量機還能夠配備影像測頭。

Leitz Reference Xi – “Xi” 代表著系統具備充分的“靈活性”。

產品特點:

• 活動橋式機構，配備獲得TRICISION™ 技術
• 高分辨率AURODUR 鋼制光柵，配備自動溫度補償技術
• 花崗石工作臺配以一體式燕尾導軌
• 采用預載荷空氣軸承
• 可提供各種Leitz三維探測系統：LSP-X5、LSP-X3c、以及配備TESASTAR-m 的LSP-X1s/h 
• 選項：自動探針更換架

性能指標： 

Leitz Reference Xi，溫度范圍18 - 22°C：

齒輪檢測：

圓柱齒輪：

• 直齒、斜齒、人字齒輪、花鍵齒輪 (內齒與外齒)
• 離合器齒輪 (內齒與外齒)
• 齒輪段 (少齒數：1)
• 齒條

錐齒輪：

• 直傘齒輪、螺旋傘齒輪、斜形傘齒輪、冠狀齒輪

齒輪刀具：

• 滾刀、拉刀、成型刀具、剃齒刀

可提供的接口：

• Gleason GAGE 4/WIN、Klingelnberg KIMOS、bevel-gear-chain from Univ. of Aachen

評價標準：

• DIN、ISO、AGMA、ANSI、JIS、CNOMO、CAT