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超聲波C 掃描檢測系統 DLT-QC-210
產品介紹
超聲掃描顯微鏡
超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對材料科學，半導體行業等相應產品的內部缺陷檢測，利用高速線性馬達運動系統，對產品進行水浸C 掃描檢測，全波列采集超聲波信號，利用成像算法和數據圖像處理功能，對產品內部的缺陷進行有效識別，得到內部清晰圖像，并統計分析缺陷位置、形狀和尺寸，生成自定義報告。
二、產品特點 FEATURES
適用產品：芯片、塑料封裝IC、PCB、金屬基板、晶片、半導體電子行業；Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,
檢測結果穩定性、 一致性高；
High stability and consistency of test results;
高速定位，快速成像；
High-speed positioning and fast imaging;
操作簡單，使用安全，檢測結果格式多樣化；
Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;
技術參數 SPECIFICATIONS
運動系統/Motion system
XY軸掃描范圍/Scanning range of XY axis 300*300mm (可定制/Customizable)
掃描速度/Scanning speed 1000mm/s
重復精度/Repetition precision 1um
超聲發射接收/ Ultrasonic emission and reception
工作頻率范圍/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz
激勵脈沖形式/Excitation pulseform 方波/Square wave
工作溫度/Working temperature -10℃~+50℃
采樣率/Sampling rate 100MHz, 可支持，GHz/100MHz,Support IGHz
重復頻率/Repetition frequency 20khz
數據傳輸率/Data transfer rate 5G
采樣點數/Sampling points 4K (可定制)/4K(Customizable）
增益調節/Gain adjustment -13~66dB 連續1dB 可調/- 13~66dB continuous IdB adjustable
軟件功能/Software function
A、B、C、D掃描圖像 界面跟蹤、區域重掃
A,B,C, D scanning imaging Interface tracking, area re-scanning
多種特征成像方式/Multiple imaging methods 多種數據處理、圖像處理方式
Multiple data processing and image processing methods
缺陷定位統計分析/ 數據庫統計、自定義報告模板/
Statistical analysis of defect location Database statistics, customizable report template
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