布魯克紅外顯微鏡是一款功能強大的材料表征分析工具，使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限，從而在利用原子力顯微鏡（AFM）獲得微區形貌和表面物理特征的基礎上，進一步幫助用戶全面解析樣品表面納米級別的化學信息，開創了納米紅外化學解析的新領域。由于這款納米紅外儀器具備的超高空間分辨率的紅外光譜采集和化學成分成像。
布魯克紅外顯微鏡的使用功能：
基本幾何測量：測量點、線、圓、圓弧、矩形、多邊形、橢圓等。
自動測量功能：自動尋邊測量、框選測量、篩選毛邊自動尋邊快速測量點、線、圓、圓弧等。
組合元素測量：對點、線、圓等進行組合測量，可測量圓心距、圓切線、兩線中線、中心點、垂直距離、角平分線、兩線交點等。
形位誤差測量：測量計算同心度、真圓度、直線度、位置度等形位誤差。
坐標系設定：可對原始坐標平移、坐標旋轉，針對物件進行擺正，或重設新的坐標系。
對比功能：將幾何測量的工件影像圖形以DXF格式輸出，進行對比測量；也可分別調出AUTOCAD的工程圖紙文檔與影像DXF文檔圖形進行重疊對比測量，從而檢定工件與標準圖紙之間的偏差。
布魯克紅外顯微鏡部件的保養：
1、使用時要遠離水或潮濕的地方。
2、注意防塵，可在咨詢專業人員后采取防塵措施。
3、使用需遠離熱源。
4、注意電源電壓的標稱值，機器的地線和電源極性。
5、用戶不可自行維修和打開機體，內部電纜零件更換盡量使用原配件。
6、使用時，如發現異常情況，先拔掉電源。
7、注意使用后，先使影像儀冷卻。
8、機器的移動要十分注意，運輸注意包裝、防震。
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