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塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀實(shí)驗(yàn)精度圖像細(xì)膩
用具有5000像元的線陣CCD器件，每像元僅7微米，空間分辨率遠(yuǎn)高于面陣CCD，12位A/D量化，圖像細(xì)膩，分裂環(huán)的光強(qiáng)分布曲線與理論課內(nèi)容吻合，并顯示出更多的細(xì)節(jié)，無(wú)需人工干預(yù)修正,定圓心等額外處理，實(shí)驗(yàn)精度≤2%，優(yōu)于面陣CCD方案。
JCP7光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀
光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分；也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
可以對(duì)光電池，光電阻和光電二極管這三種光電元件的特性進(jìn)行測(cè)量，使學(xué)生對(duì)伏安特性，光強(qiáng)變化以及功率與電阻的關(guān)系等物理現(xiàn)象加深了解。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
光電池的開路電壓測(cè)量，功率與電阻的關(guān)系，填充因子測(cè)量,光強(qiáng)變化與開路電壓之間的關(guān)系以及光電池在黑暗狀態(tài)下作二極管用的伏安特性測(cè)量。
光電阻的伏安特性測(cè)量，光強(qiáng)變化對(duì)光電阻的電壓影響。
光電二極管的伏安特性測(cè)量。
JCP8直讀型開放式光柵光譜實(shí)驗(yàn)儀
目視直讀,光路調(diào)節(jié)開放式，光源準(zhǔn)直透鏡、光譜成像透鏡、光柵架可調(diào)，能鮮明地觀察到零級(jí)、一級(jí)和二級(jí)譜線分布狀況(600L/mm)。手動(dòng)逐點(diǎn)測(cè)量，適于普物教學(xué)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
譜儀光學(xué)元件相互幾何關(guān)系調(diào)節(jié)，加深對(duì)各個(gè)元件作用的理解；
觀察零級(jí)、一級(jí)、二級(jí)譜線分布狀況與光柵轉(zhuǎn)角的關(guān)系；
光譜定標(biāo)的原理和方法；
測(cè)量氫光譜，鈉光譜及其它光譜實(shí)驗(yàn)
波長(zhǎng)范圍：300-900nm
焦 距：790 mm
光 柵：1200L/mm
接收方式：手動(dòng)逐點(diǎn)測(cè)量
波長(zhǎng)分辨率：優(yōu)于0.2nm(1200L/mm); 優(yōu)于0.4nm(600L/mm)
體 積：0.7m*0.3m*0.25m