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高壓加速壽命老化試驗箱
高壓加速壽命老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。
產品簡介
詳細介紹
pct高壓加速壽命老化試驗箱簡介
pct高壓加速壽命老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。
常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
pct高壓加速壽命老化試驗箱技術參數
尺寸規格大小可按照客戶要求提供定制
1.內箱尺寸 : Φ300×D450 (mm)
2.外箱尺寸 : W660×H1050×D1250 (mm)
3.內箱材質 : SUS 316#不銹鋼板材質.
4.外箱材質 : 高級烤漆
5.溫度范圍 : 105℃～ 132℃. (飽和蒸氣溫度).
6.濕度范圍 : *RH . (飽和蒸氣濕度).
7.壓力范圍 : 0.2Kg/cm2～2.4Kg/cm2控制點壓力.
8.時間范圍: 0 ~ 999 小時可調.
9.溫度分布:(+/-)2.0℃.
10.升溫時間:RT ~ 132℃約45分鐘內. (控制點溫度).
11.加壓時間:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2 約40分鐘內(控制點壓力).
12.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
13.控制方式:微電腦PID控制.
14.控制精度:(+/-)0.5℃. 15.解析精度:0.1℃
pct高壓加速壽命老化試驗箱結構特點
1. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象;
2. 圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊;
3. 水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量;
4. 型packing ,材質：耐高溫夕膠發泡成型，內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠 壓式*不同,可延長packing壽命;
6. 實驗開始前可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內之純凈度.;
7. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障提示;
8. 機臺具有定時干燥功能 , 使試驗產品處于干燥狀態;
9. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱體底部，采用自動補水功能;試驗不終斷 ; 試驗結束時設備會自動瀉除壓力;
pct高壓加速壽命老化試驗箱安全保護：
試驗時全程檢測超溫超壓保護，*階段儀表內部超高溫保護，第二階段儀表內部加濕器缺水保護，高壓力保護，水箱 缺水報警斷電，第二階段加濕管極限溫度保護，第二階段超高壓保護，第三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護，自動泄壓等。
實物拍攝圖
