Park原子力顯微鏡是一種分析儀器，可用于研究包括絕緣體在內的固體材料的表面結構。
原理介紹：
Park原子力顯微鏡的工作方式按針尖與樣品間受力的形式分類。原子力顯微鏡利用微懸臂梁來感應和放大懸臂梁的末端與被測樣品原子之間的關系。達到檢測的目的（在掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，可以得到受力分布信息，從而獲得納米級分辨率的表面形貌結構信息和表面粗糙度信息）。由于原子力顯微鏡可以同時觀察導體和非導體，彌補了掃描隨道顯微鏡的一些不足。
優點：
與掃描電子顯微鏡相比，原子力顯微鏡有很多優點。
①與電子顯微鏡只能提供二維圖像不同，AFM提供真實的三維表面圖像。
②同時，AFM不需要對樣品進行任何特殊處理，如鍍銅或鍍碳，否則會對樣品造成損壞。
③電子顯微鏡需要在高真空條件下工作。原子力顯微鏡在常壓甚至液體環境下都能很好地工作。這可用于研究生物大分子甚至活的生物組織。與掃描隨道顯微鏡STM相比，原子力顯微鏡可以觀察非導電樣品，因此具有更廣泛的適用性。目前，廣泛應用于科研和工業的掃描力顯微鏡是以原子力顯微鏡為基礎的。
缺點：
與掃描電子顯微鏡（SEM）相比，AFM的缺點是成像范圍太小，速度慢，頭部的影響太大。
區別：
AFM是力基顯微鏡，SEM和TEM是電子顯微鏡，原理不同；AFMzui大的特點是樣品無損，廣泛應用于生物系統。SEM和TEM被電子轟擊。，廣泛應用于材料，AFM依賴于探針和表面的功能。
原子力顯微鏡適用于測量基板上樣品的表面起伏和形貌。
SEM是觀察樣品在基材上的表面形貌。
TEM觀察樣品結構和內部精細結構，但需要進行測試。樣品相對較薄以允許電子通過，因此基板樣品不起作用。
四百原子力顯微鏡AFM檢測項目：
高度圖、相圖、表面粗糙度、三維立體圖等
應用范圍：
Park原子力顯微鏡廣泛應用于表面分析的各個領域，通過對地表地形的分析、歸納和總結，獲得更深層次的信息。可用于研究金屬、半導體和非金屬材料的表面形貌、表面重構、摩擦等，獲得相界、分形結構、側向力等信息的空間三維圖像。
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