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噴霧激光粒度分析儀保證了對寬分布的樣品測量結果更為準確
噴霧激光粒度分析儀發出的激光束經顯微鏡聚焦、針孔濾波和準直鏡準直后，變成直徑約10 mm的平行光束，該光束照射到待測的顆粒上，一部分光被散射，散射光經傅里葉透鏡后，照射到廣電探測器陣列上。由于廣電探測器處在傅里葉透鏡的焦平面上，因此探測器上的任一點都對應于某一確定的散射角。廣電探測器陣列由一系列同心環帶組成，每個環帶是一個獨立的探測器，能將投射到上面的散射光能線性地轉換成電壓，然后送給數據采集卡，該卡將電信號放大，在進行A/D轉后后送入計算機。
噴霧激光粒度分析儀特點：
1、噴霧激光粒度儀動態范圍寬，重復性好，操作簡單方便。設計的探測器陣列，保證了各種粒度顆粒散射信號的有效接收，從而保證了對寬分布的樣品測量結果更為準確。
2、儀器功能強大，既能測試納米級粉體又能測試微米級粉體，兩種測試功能只需點一下鼠標，幾秒鐘就實現快捷轉換。
3、噴霧激光粒度儀集光學、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環、全自動清洗一體化，電腦控制下自動對中校零。測試時樣品在管道內流動的時間短，避免了樣品分散后的分層和重新團聚，從而保證儀器重復性、穩定性好。
4、具有2種進樣系統可選，滿足您的各種測試需求。2種進樣系統能方便地互換，包括普通型、微量型。
5、用戶可根據實際需要選擇不同的數據處理方法和分布模型。
6、儀器包含多種分布模式，有自由分布、對數正態分布、R-R分布等，可以滿足不同樣品的測試和對比的需要。現在激光粒度儀的實際結構已經起了很大的變化，但原理一樣。
噴霧激光粒度分析儀目前人們經過研究得出以下結論：
1、測量小于1mm的顆粒時，必須使用米氏理論；
2、測量大于1mm顆粒時，如果儀器的測量下限小于3mm，則儀器仍然要用米氏理論，否則在粒度分布的1mm附近會“無中生有”一個峰；
3、噴霧激光粒度分析儀可以使用的衍射理論的條件是：儀器的測量下限大于3mm，或被測顆粒是吸收型的，且粒徑大于1mm；
4、作為一臺通用的激光粒度儀，只要其測量下限小于1mm，不論它用來測量大顆粒還是小顆粒，都應采用米氏理論。