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粒度分布測試的影響因素和方法介紹
粒度分布：用特定的儀器和方法反映出的不同粒徑顆粒占粉體總量的百分數。有區間分布和累計分布兩種形式。區間分布又稱為微分分布或頻率分布，它表示一系列粒徑區間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布，它表示小于或大于某粒徑顆粒的百分含量。
影響粒度分布測試的原因主要有以下幾種：
1. 取樣的均勻性：在取樣時可以采用均取法、錐形四分法和儀器縮分法；
2. 分散性：由于靜電和表面能作用，材料的細小顆粒會發生結團，會很大程度的影響實驗結果；
3. 分散介質：部分分散介質會與樣品發生反應，在測試前應查閱相關資料，以此確保不會影響；
4. 儀器種類：測試的光源、測試器件的靈敏度和儀器的對于數據的處理方式都會影響其終的實驗結果。
當前主流的粒度分布測試儀有以下幾種：激光粒度儀（光散射等效原理），庫爾特顆粒計數器（小孔電阻等效原理），圖像粒度分析儀（投影面積等效原理），沉降儀（沉降速度Stocks原理）。
激光粒度儀量程范圍一般可達0.1-1000微米。且其測量動態范圍大，是應用普及的粒度儀。
庫爾特顆粒計數器檢測精度高，量程范圍一般為1-250微米，由于其測量動態范圍小，測量上限和下限也不足。主要應用在樣品為窄分布的粉體行業。
圖像粒度分析儀，量程跟配置的顯微鏡性能直接相關。其同樣存在動態范圍小，不適合測試寬分布樣品的不足之處。但是它可以進行顆粒形貌分析，這一特性是其*的。
沉降儀的性能特點與激光粒度儀近似，但是它在測量速度和量程大小上落后于激光粒度儀，目前在大多數行業都被激光粒度儀所取代了。