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amptek 探測器X-123技術(shù)參數(shù)
閱讀：60 發(fā)布時間：2025-6-13X-123 是一款集成于小巧便攜盒體中的完整 X 射線檢測系統(tǒng)，可輕松握于手中。
X-123 凝聚了 Amptek 多年來在 X 射線探測器領(lǐng)域的研發(fā)成果。我們始終秉持 “打造小型化、低功耗、高性能且操作簡便的儀器" 理念，而 X-123 正是這一理念的 —— 它在單一封裝中集成了 XR-100CR X 射線探測器及其電荷靈敏前置放大器、配備脈沖成形器 / 多道分析器（MCA）和接口的 DP5 數(shù)字脈沖處理器，以及 PC5 電源。用戶僅需提供 + 5 V 直流輸入，并通過 USB、以太網(wǎng)或 RS-232 與計算機連接即可使用。
產(chǎn)品特點
緊湊集成系統(tǒng)
操作簡便
體積小巧（2.7×3.9×1 英寸，7×10×2.5 厘米）
低功耗（2.5 瓦）
重量輕盈（6.3 盎司，180 克）
支持 USB 和 RS-232 通信
應(yīng)用領(lǐng)域
X 射線熒光分析（XRF）
符合 RoHS/WEEE 標(biāo)準(zhǔn)的檢測設(shè)備
過程控制
X 射線分揀機
藝術(shù)與考古領(lǐng)域
探測器選項
用于 X 射線檢測的快速硅漂移探測器（SDD）
面積：25、70 或 160 mm2
厚度：500 微米或 1000 微米
多層準(zhǔn)直器
典型性能分辨率：在 5.9 keV 能量下，半高寬（FWHM）為 122-129 eV
最佳能量范圍：1 keV 至 40 keV
最大計數(shù)率：>1×10?次 / 秒
用于 X 射線檢測的硅 PIN 探測器
面積：6、13 或 25 mm2
厚度：500 微米
多層準(zhǔn)直器
典型性能分辨率：在 5.9 keV 能量下，半高寬（FWHM）為 139-260 eV
最佳能量范圍：1 keV 至 40 keV
最大計數(shù)率：高達 2×10?次 / 秒
用于 X 射線和伽馬射線檢測的碲化鎘（CdTe）探測器
面積：25 mm2
厚度：1000 微米
典型性能分辨率：在鈷 - 57 源下典型值 < 1.5 keV
最佳能量范圍：5 至 100 keV
最大計數(shù)率：高達 2×10?次 / 秒