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產品簡介
詳細介紹
ARL QUANT, X X射線熒光光譜儀
能量色散型X射線熒光光譜儀
提高元素分析的質量標準
X射線熒光光譜儀大氣顆粒物分析 • 金屬、貴金屬、合金 • 調查 • RoHS 和 WEEE 篩選石油 • 各種油品、過濾介質、添加 劑和發動機磨損金屬分析 • 食品安全 • 水泥、陶瓷、化肥 • 原料和替代燃料 • 冶金、礦渣及礦石 • 考古和文 物修復、寶石學、金屬飾品 • 聚合物、催化劑、半導體和磁性介質材料 •
建立在豐富成功經驗的基礎上
X射線熒光光譜儀作為 EDXRF行業的參考標準，ARL QUANT'X 久負盛名。 自面世以來，ARL QUANT'X采用多種新技術來推動EDXRF 性能提高及行業發展。ARL QUANT'X早推出了世界上Peltier電制冷Si(Li)探測器，該臺式EDXRF現已發展成為 一款多功能緊湊型高性能能譜。它的核心是一代硅漂移 探測器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具 高計數率和高分辨率特性。較大的探測器晶體區域可確保 大的立體角，從而限度捕獲由樣品產生的 X 射線。 即 使在分析小樣品或使用低至 1 mm 的準直器面罩時，50 瓦 特的大功率 X 射線管也能實現有效激發。通過9個濾光片組 合，可以輕松找到激發條件。 ARL QUANT'X 支持在空 氣、氦氣和真空中進行分析，從而確保各類樣品（無論液體、松散粉末或固體）均可實現輕元素分析。
提高性能
X射線熒光光譜儀與上一代產品相比，新型 ARL QUANT'X 結合了改進的電 子器件、全新的探測器、增強的 X 射線管以及優化的幾何結 構，從而提高了靈敏度。如果要測定微量元素，除了需要提 升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。 ARL QUANT'X 經 過精心設計，可消除探測器電子器件、分析室、光學器件和 X 射線管產生的所有雜散干擾。 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀通常以高于 200 Kcps 的 輸入計數率運行，同時在 Mn Kα 條件下保持優于 140 eV FWHM 的典型分辨率在較短測量時間下依然可以獲得高計 數統計數據，從而獲得比上一代產品更加準確的分析結果。
除提升性能外，ARL QUANT'X 還具有體積小的優勢，適用 于任何實驗室。只需要一個標準電源插座和氦氣（當需要該 氣體時）即可使用。 在儀器接通電源幾分鐘后，Peltier 冷卻 SDD 即可運行，儀器即進入工作狀態，關機無需等待。
安全至上
使用 X 射線時，安全至關重要。在 ARL QUANT' X 上，通 過基于互鎖的自動防故障電路設計和在 X 射線打開時顯示 的清晰警告標志來保證安全。在各次測量之間以及當室蓋 打開時，X 射線管會*關閉，從而進一步增強操作員的安 全。ARL QUANT' X 符合嚴格的安全規則與規范。
增強型分析軟件
X射線熒光光譜儀的 WinTrace 分析軟件在 Windows 10 下運行，基于多 年完善的研究實踐和豐富經驗的*算法，讓EDXRF分析 變得更加靈活。該軟件可針對任何樣品中任何數量的分析物 收集和處理多達 9 個濾光后的光譜。分析程序具有多種算 法，可校準所需任意數量的校準標準品（一個標準品即能進 行校準）。收集光譜后，可隨時重新處理和脫機計算光譜。自 動化 X 射線功率調節功能可保證所有樣品（無論是空氣濾 膜、礦渣、金屬、石油、巖石）都通過其*的設置進行 分析。
簡單且用戶友好的界面
X射線熒光光譜儀在數字世界中，如果沒有可以充分發 揮其功能的靈活軟件，它也會受到限制。Method Explorer（ 方法管理器）界面為高級用戶提供每個參數的訪問權限，允 許他們在任何應用中針對關注元素選擇測試通量、或 者靈敏度的分析條件。只需單擊元素周期表，即可添加 或刪除分析元素。使用樹形界面方便查看校準和分析結果。 通過已有方法文件可快速建立自己的方法。使用標準數據庫 可集中管理參考物質、標準樣品的所有數據。
雖然全面控制和微調功能對于光譜儀十分重要，但是速度和 易用性在行業環境中關鍵。WinTrace 允許使用預先加
載的目標方法設置快捷方式。操作員只需輸入樣品名稱，然 后單擊即可進行測量。在測量后，光譜圖和分析結果將自動 保存到方法中。用戶可方便地將所有分析數據存儲在一個位 置。
光譜計算
X射線熒光光譜儀對于任何定量分析，關鍵步驟是從光譜中準確提取峰 值強度。高級去卷積算法允許從包含許多元素分析線的復雜 光譜中正確提取凈峰值強度。并能自動處理逃逸峰及和峰。 預定義的設置適用于大多數應用，并且可以輕松進行自定 義，以應對困難的情況。
元素分析和鍍層分析
X射線熒光光譜儀WinTace 軟件提供一系列分析算法，可處理任何類型的樣 品，無論樣品是固體、粉末還是涂層。如果分析的元素數量 有限并且有足夠可用的標準品，經驗算法即得到出色的結果 基本參數 (FP) 算法可用于任意數量的元素、標準品和激發 條件的校正。FP厚度分析模塊多可測量六層（包含任意數 量的元素）的厚度、質量和組成。也可以脫機重新計算所有 等式，從而輕松實現方法優化。
受密碼控制的訪問級別
校準方法具有密碼保護選項，防止操作員在使用該方法時意 外更改校準參數或有用數據。WinTrace 還提供不同的用戶 級別權限，入門級模式允許用戶在短時間培訓下能夠快速完 成樣品分析，而高級模式則允許用戶管理員*控制儀器及 其校準參數。
數據傳輸
X射線熒光光譜儀通過可選的 TRACEcom 軟件包，WinTrace 可輕松與 LIMS 交互，從而支持以用戶可選格式共享分析數據。該功能有助 于將 ARL QUANT' X EDXRF 光譜儀集成到自動化實驗室
中。
多語言
X射線熒光光譜儀使用已翻譯成您本國語言的軟件時，總會感到更加簡單。 現 在，可按多種內置語言配置用于 ARL QUANT'X EDXRF 的 WinTrace。
高級無標樣分析技術
賽默飛世爾科技公司的綜合性半定量無標樣分析方法稱為 UniQuant，它利用所有過濾片和預設激發條件設置對氟到 鈾的所有元素實現測量。并且可在無用戶干預或優化
的情況下生成任何未知樣品的曲線。樣品的完整光譜曲 線使UniQuant 能夠對所有可能的重疊和背景效應自動進行校正，而這在能量色散光譜的定量分析中尤為復雜。
• 分析所有元素
• 在計算中包括每個樣品的*物理性質，即面積、高度和 質量
• 空氣或氦氣以及樣品杯膜吸收和雜質均得到校正
• 使用漂移校正樣品對X射線管的長期穩定性進行監控
• 多種可選擇的報告級別和格式可為各類用戶提供清晰結果
多功能樣品室
批量分析樣品，提高生產效率，并通過大樣品室和多種送樣 選配裝置擴展EDXRF的分析通量。模塊化儀器設計允許在 應用發生更改時輕松添加或刪除任何樣品處理選項。
自動進樣器有助于提高生產效率
自動化的 10 位和 20 位樣品轉盤可批量分析標準的液體樣 品杯、粉末壓片、氣溶膠和濾膜。 支持外徑為 31 mm 的樣品 杯，以及大外徑為 51.5 mm 的鋼環。
氣體選擇
得益于樣品和探測器之間的緊密耦合，即使是在空氣條件 下。仍可檢測輕元素。真空有助于提高固體中輕元素的靈敏 度，而氦氣環境則適用于液體樣品。 惰性氣體可用于腐蝕性 材料或不穩定的材料的分析，考慮這種情況，我們在樣品分 析室使用了耐化學腐蝕材料。
適用于大型樣品
單樣品托盤和大樣品臺可接受異形、較大且不規則的樣品， 大尺寸分析室足夠容納這類樣品。
分析室擴展
對于體積超大的樣品，例如氣缸體、防塵罩、渦輪碎片、汽車 零部件以及高達 36 cm（14.2 英寸）的任何樣品，也可以通 過可選的分析室擴展進行分析，而無需額外的工作或準備。
1位和10位樣品轉換器可配備樣品旋轉器，以進一步降低分 析誤差。在分析輕元素時，樣品旋轉尤其重要，對于這些元 素，將從樣品表面的幾個原子層生成X射線信息。
分析小樣品或小于1mm的小斑點
可以在15mm至1mm的范圍內調整光束尺寸，以便進行快速 篩選，方便研究和調查工作。 這適用于分析較小樣品或較 大樣品的特定區域或斑點
在分析過程中觀察樣品
通過用于樣品成像的 CCD 相機和可調節的 X 射線束直 徑，ARL QUANT'X 允許您選擇需要分析的樣品部位，從而 將XRF光譜儀“體相分析”的高靈敏特點與“微觀”采樣靈活
性完美結合。