產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
ES612 ESD測(cè)試儀是2管腳測(cè)試儀,為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試而設(shè)計(jì)。該測(cè)試儀的波形可以符合HBM,HMM和MM 的相關(guān)ESD標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試儀上的DC特性測(cè)試端口,可搭配數(shù)字源表等DC測(cè)試設(shè)備,較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612 ESD測(cè)試儀可搭配多管腳自動(dòng)化測(cè)試儀進(jìn)行應(yīng)用擴(kuò)展,也可用作器件質(zhì)檢規(guī)范流程的一步。
詳細(xì)介紹
ES612 ESD 測(cè)試儀 (HBM, HMM, MM)
ES612 ESD測(cè)試儀是一款2管腳測(cè)試儀,為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試而設(shè)計(jì)。該測(cè)試儀的波形可以符合HBM,HMM和MM 的相關(guān)ESD標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試儀上的DC特性測(cè)試端口,可搭配數(shù)字源表等DC測(cè)試設(shè)備,較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612 ESD測(cè)試儀可搭配多管腳自動(dòng)化測(cè)試儀進(jìn)行應(yīng)用擴(kuò)展,也可用作器件質(zhì)檢規(guī)范流程的一步。
ES612 ESD測(cè)試儀的脈沖源設(shè)計(jì)和注入方法能夠確保被測(cè)器件端的波形表現(xiàn)。該設(shè)備內(nèi)置的電流探頭自動(dòng)抓取脈沖注入時(shí)的波形,為數(shù)據(jù)分析提供可靠依據(jù)。此外,電壓波形也可通過(guò)選配的電壓探頭連接示波器進(jìn)行抓取。由于該設(shè)備還可擴(kuò)展進(jìn)行ESD波形注入前后的DC特性檢測(cè),因此可進(jìn)行ESD事件的損傷判定。
特點(diǎn)
低寄生參數(shù),高質(zhì)量脈沖
可定制,可擴(kuò)展
可搭配探針臺(tái)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試
外置可選配的自動(dòng)故障檢測(cè)模塊
觸摸控制面板
可固件升級(jí)
可選配的自動(dòng)化脈沖注入和故障測(cè)量軟件
可選配的脈沖IV和DC IV表征功能
ES612 ESD測(cè)試儀是一款2管腳測(cè)試儀,為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試而設(shè)計(jì)。該測(cè)試儀的波形可以符合HBM,HMM和MM 的相關(guān)ESD標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試儀上的DC特性測(cè)試端口,可搭配數(shù)字源表等DC測(cè)試設(shè)備,較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612 ESD測(cè)試儀可搭配多管腳自動(dòng)化測(cè)試儀進(jìn)行應(yīng)用擴(kuò)展,也可用作器件質(zhì)檢規(guī)范流程的一步。
ES612 ESD測(cè)試儀的脈沖源設(shè)計(jì)和注入方法能夠確保被測(cè)器件端的波形表現(xiàn)。該設(shè)備內(nèi)置的電流探頭自動(dòng)抓取脈沖注入時(shí)的波形,為數(shù)據(jù)分析提供可靠依據(jù)。此外,電壓波形也可通過(guò)選配的電壓探頭連接示波器進(jìn)行抓取。由于該設(shè)備還可擴(kuò)展進(jìn)行ESD波形注入前后的DC特性檢測(cè),因此可進(jìn)行ESD事件的損傷判定。
低寄生參數(shù),具有高質(zhì)量脈沖
可定制,可擴(kuò)展
可搭配探針臺(tái)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試
外置可選配的自動(dòng)故障檢測(cè)模塊
觸摸控制面板
可固件升級(jí)
可選配的自動(dòng)化脈沖注入和故障測(cè)量軟件
可選配的脈沖IV和DC IV表征功能
用于晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級(jí)器件的通用ESD測(cè)試
HBM模塊符合ANSI / ESDA / JEDEC JS-001-2014
HMM模塊符合ANSI / ESD SP5.6-2009
MM模塊符合ANSI / ESD STM5.2-2012
ES612 控制主機(jī)
參數(shù) ES612-2K ES612-8K ES612-12K ES612-20K 單位 輸出電壓 ± 10 ~ 2000 ± 10 ~ 8000 ± 10 ~ 12000 ± 10 ~ 20000 V 小輸出電壓步長(zhǎng) 1V (500V以內(nèi)) 10V (2 kV以內(nèi))
1V (500V以內(nèi)) 10V (8 kV以內(nèi))
1V (500V以內(nèi)) 10V (12 kV以內(nèi))
1V (500V以內(nèi)) 10V (20 kV以內(nèi))
V, kV
輸出電壓精度 ± 1 % 或 ± 5 V % 尺寸 347 X 300 X 145 mm 重量 5 6 6 7 kg 電壓、電流測(cè)量 電壓、電流測(cè)量無(wú)源探頭 支持的示波器 Keysight, Tektronix,Lecory主流型號(hào)示波器 支持的SMU Keithley 24xx/26xx 系列 外置人體模型(HBM )波形發(fā)生模塊
參數(shù) HBM-2K HBM -8K HBM -12K HBM -20K 單位 輸出電壓 ± 10 ~ 2000 ± 10 ~ 8000 ± 10 ~ 12000 ± 10 ~ 20000 V 放電RC值 C: 100 pF ± 10%, R: 1.5k? ± 1% 短路峰值電流Ips 0.67A ± 10 % per kV ns 短負(fù)荷上升時(shí)間Trs 2 < Trs < 10 ns 短負(fù)荷衰減時(shí)間Tds 1300 < Tds < 1700 ns 短負(fù)荷振鈴Irs < 15% of Ips 500Ω負(fù)載峰值電流Ipr Ipr/Ips ≥ 63% 500Ω負(fù)載上升時(shí)間Trr 5 < Trr < 25 ns 外置人體-金屬模型(HMM )波形發(fā)生模塊
(根據(jù)ANSI/ESD SP5.6-2009)
參數(shù) HMM-24K 單位 備注 HMM峰值電流 90 A 3.75 A per 1 kV ≤ ± 10 % IEC 61000-4-2 (R=330?, C=150pF)
HMM電流@ 30 ns 48 A ≤ ± 10 % (優(yōu)于IEC標(biāo)準(zhǔn)的 ±30% ) HMM電流@ 60 ns 24 A ≤ ± 10 % (優(yōu)于IEC標(biāo)準(zhǔn)的 ±30% )
編號(hào) 型號(hào) 描述 ES612 ESD測(cè)試儀 1.1 ES612 ES612 ESD 測(cè)試儀控制主機(jī), 大輸出電壓 8 kV / 20 kV, RS232 SCPI 通訊端口
1.2 ES612-HBM 人體模型波形發(fā)生模塊(2管腳) 1.3 ES612-HMM 人體-金屬模型波形發(fā)生模塊(2管腳) 1.4 ES612-MM 機(jī)器模型波形發(fā)生模塊(2管腳) 其他配件選項(xiàng) 2.1 ES62x-PC-HBM 電腦(預(yù)裝脈沖及失效等級(jí)自動(dòng)檢測(cè)軟件) 2.2 KSMU2400 數(shù)字源表, 200V, 1A, 20W, 單通道(用于被測(cè)器件DC損傷檢測(cè)) 2.3 ES62X-CMPS 簡(jiǎn)易手動(dòng)探針臺(tái) 2.4 ES62X-XYZM-TIM XYZ 微動(dòng)探針座 – XYZ 行程500 mils,步進(jìn)0.01mm 2.5 ES62X-XYZM-PAA PCB 探針臂套件,配備電壓測(cè)量探頭 2.6 ES62X-XYZM-GAA 接地探針臂套件 2.7 HBM-TC0.3 0.3 mm Pitch Test Clip 2.8 HBM-TC2.5 2.54 mm Pitch Test Clip 2.9 ES62X-XYZM-PP048 048 型號(hào)彈簧探針 2.10 ES62X-XYZM-PP075 075 型號(hào)彈簧探針 2.11 ES62X-XYZM-TN1 鎢鋼針