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| 產地類別 | 進口 |
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產品簡介
詳細介紹
II類全自動沖擊電流測試系統LCG 65S
技術參數 | |
項目 | 8/20μs電流波 |
輸出峰值 | 35kA，65kA，120kA，150kA，200kA |
T1波前時間 | 8μs±10% |
T2波尾時間 | 20μs±10% |
反向過沖 | ＜20% |
波前振蕩 | ＜5% |
電壓極性 | 正/負，（自動切換） |
波形切換 | 自動切換 |
充電時間 | 10s~999s |
充電電壓不穩定度 | 小于1% |
外部同步輸入 | 50Hz |
觸發方式 | 自動或手動，可單次觸發 |
觸發誤動率 | 小于1% |
觸發范圍 | 100%額定充電電壓 |
相位測試范圍 | 0～360° |
動作負載測試 | 內置，0～500V，5A持續供電 |
顯示屏 | 10英寸TFT彩色觸摸屏 |
測量顯示精度 | 優于3% |
測試產品類型 | MOV，TVS，GDT，SPD，電源類浪涌保護器等 |
被試品殘壓 | ＜5kV |
電流測量（可選） | 內置測試箱，羅斯線圈測量，面板BNC輸出 |
電壓測量（可選） | 內置測試箱，純阻性分壓器，面板BNC輸出 |
示波器 | MDO3012，可選 |
絕緣強度 | ≤500V RMS（公共端COMMON對地參考PE） |
II類全自動沖擊電流測試系統LCG 65S
優點：
1.采用開放式結構，簡潔美觀；
2.采用立體向心式布局，回路電感量小，放電均勻；
3.設備需安裝在獨立的測試房間，安裝門禁系統，保證用戶的安全；
4.操作方便靈活，可以集成較高的自動化控制，自動循環控制；
5.可搭配crowbar觸發系統進行10/350us波形試驗，最高可輸出100kA；
6.針對不同的測試目的，可配合不同的波形發生網絡，產生各種輸出波形；
7.配置MCS2000自動控制系統。
S46T-18 最多為 32 端接繼電器，包括 18 和 26.5GHz GPIB 全機架，2U
"4200A-SCS-PK1
高分辨率 IV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率
對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
4200A-SCS 參數分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"
"4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
4200A-SCS 參數分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"
"4200A-SCS-PK3
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件" "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
4200A-SCS 參數分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(2) 4210-SMU
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"
"4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件" "用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：
(1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊
自動化檢定套件 (ACS) 軟件
超快 BTI 測試項目模塊
電纜"
2600-PCT-1B 低功率 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A - US $26,600
2600-PCT-2B 高電流 200 V/10 A 200 V/10 A 40 V/50 A 40 V/50 A - US $45,300
2600-PCT-3B 高壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A - US $52,600
2600-PCT-4B 高電流和高電壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 40 V/50 A 40 V/50 A - US $71,400
S500 - 配置與報價
S530. - 配置與報價
S535 - 配置與報價
S540 - 配置與報價
708B 單槽半導體開關矩陣，具有高達 96 個相交點
707B 六槽半導體開關矩陣，具有高達 576 個相交點
ACS-BASIC ACS 基礎版主要適合通過手動探頭測試臺和測試夾具進行半導體元器件測試。通過“譜線模式”快速地以交互方式執行初始器件檢定。或者，使用基于 GUI 的設置屏幕和廣泛的測量庫創建詳細的參數提取測試。
ACS. ACS 支持各種半自動和全自動探頭在整個晶片上對半導體器件進行測量。 或者，以交互方式控制探頭測試每個器件。 在運行時期間，通過單器件結果和多器件統計監視測試進度。
PSPL5865 12.5 Gb/s 26 dB 7.5 Vp-p 非逆 2.3 W - US $2,570