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COULOSCOPE CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉換到PC電腦中。
在電鍍行業中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度及電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求，德國Fischer庫倫測厚儀CouloScope CMS STEP正是應此而成功研制并大量應用。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層間足夠的電位差導致了光亮鎳層優先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。
特征：
標準：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設置和儲存：50個應用程式、600個數據組；3 000個數據
統計：平均值、zui大值、zui小值、標準偏差、測量次數、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數據傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D mm
COULOSCOPECMS
COULOSCOPECMS STEP
庫侖鍍層厚度測試儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
COULOSCOPE CMS雙層鎳鍍層庫倫測厚儀基本配置：
儀器：Couloscope CMS
測量臺： V24、V26、V18 等
電解液： F1 ～ F22
作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經濟的替代方法。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。