QNix 4500測(cè)厚儀說(shuō)明書

Qnix 4500測(cè)厚儀 

產(chǎn)品特點(diǎn)：

一、適用于測(cè)量鐵磁性/非磁性基體上油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料如塘瓷、鋅、鉻、鉛等。

二、4500涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：        

只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn) 體積小巧，操作方便  一機(jī)雙用，自動(dòng)識(shí)別基體  精度高  價(jià)格便宜 

三、QNix4500涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：   

磁性基體(Fe模式) QNix4200/4500均有此功能

非磁性基體(NFe模式) QNix4500有此功能

測(cè)量范圍Fe:0-3000um/NFe:0-2000um

顯示精度：0.1um

精度：0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-3000um≤±3%讀數(shù)         

zui小接觸面：10×10mm         

zui小曲率半徑：凸面：3mm   凹面：25mm         

zui小基體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05mm         

溫度補(bǔ)償范圍：0-60℃         

顯示：LCD液晶(帶背光)         

探頭：紅寶石固定式        

電源：2×1.5V干電池

重量：105g

QuaNix 4500測(cè)厚儀特點(diǎn)：

1.只需調(diào)零、無(wú)需校準(zhǔn) 
2.Fe/NFe兩用探頭 
3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測(cè)厚儀一體化設(shè)計(jì) 
4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測(cè)厚儀自動(dòng)開關(guān)機(jī) 

QNix 4500測(cè)厚儀說(shuō)明書

儀器使用：

1.開機(jī)： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí)，儀器將自動(dòng)開機(jī)。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí)，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起，離開被測(cè)物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測(cè)量。）
2.設(shè)置： 開機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix4500 為 4 個(gè)選項(xiàng)，QNix4200 為 2 個(gè)選 項(xiàng)，
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix4500）， “Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式（僅 QNix4500）， “取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）。按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后，進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe”選項(xiàng)上停留 2 秒后，儀器顯示Fe 測(cè)量模式，這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別）模式下工作。
進(jìn)入“取平均值”選項(xiàng)后，儀器顯示取平均值，在“開”選項(xiàng)上停留 2 秒后，取平均值開啟，測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量），測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“— X ”符號(hào)時(shí)表示取平均值開啟，如不需要請(qǐng)關(guān)閉（在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”）即可。

3.測(cè)量：

（1）調(diào)零：

儀器在測(cè)量前，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零，因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同，會(huì)造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照，拿起探頭”或聽到儀器響聲后，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響 聲后，液晶顯示 0，調(diào)零完畢。

注意：由于工件表面粗糙度等原因，調(diào)零后，再測(cè)時(shí)不一定是的零位， 這是正?，F(xiàn)象。
（2）測(cè)量：

將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面，儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

注意：測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面、并壓實(shí)，每測(cè)量一次后將 儀器拿起，離開被測(cè)物 10 ㎝以上，再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。