10
1、簡單介紹
Surtronic S116泰勒粗糙度儀是Surtronic S100 系列的標準產品，堅固耐用，性能*的表面粗糙度測量儀，因為體型小巧便于重量輕，所以方便攜帶。Surtronic S116泰勒粗糙度儀可以在任何表面， 任何高度進行測量，配備的4.3寸大尺寸觸屏，容量大，顯示信息一目了然，操作方便且智能， 一頁上可顯示多至7個參數(shù)。包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件，在不需要昂貴的墊塊、支架或工裝的情況下， 對挑戰(zhàn)性的測量位置進行檢測。 防滑的V型腳架設計使系統(tǒng)能夠用在平滑或彎曲的平面上。 測針還能夠反方向底部測量
Surtronic S116
2、技術參數(shù)
數(shù)據(jù)顯示 ： | 顯示屏每頁顯示7個測試結果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖） | |
可以打印測試結果和圖形 | ||
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結果 | ||
數(shù)據(jù)存儲 | 儀器可以存儲100個測試數(shù)據(jù)和一個圖形 | |
儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結果，共70批數(shù)據(jù)。 | ||
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數(shù)據(jù)。 | ||
電源： | 充電器 | USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz |
充電時間 | 4小時 | |
電池壽命 | 充電一次可以做2000次測試 | |
待機時間 | 5000小時,由待機狀態(tài)到開機測試狀態(tài)，zui長時間不超過1秒I | |
自動關機 | 30秒– 6小時可以自行設置 | |
技術指標 | 測量范圍 | 400 um 100 um 10 um |
分辨率 | 50 nm 20 nm 5 nm | |
底噪(Ra | 150 nm 100 nm 50 nm | |
重復精度 (Ra) | 1%測試值+底噪 | |
傳感器原 | 電感 | |
測量力 | 50-300mg | |
測針針尖半徑 | 標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin) | |
測試方式 | 滑動掃描 | |
自動軟件校準 | 標準：ISO4287 | |
測試參數(shù) | 三個取樣長度 | 0.25mm、0.8mm、2.5mm |
二個濾波器 | 2CR、Gaussian | |
評定長度 | 0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選 | |
zui大行程 | 17.5mm | |
測試速度 | 測試速度 | 1mm/sec(0.04 in/sec) |
回程速度 | 1.5mm/sec(0.06in/sec) | |
執(zhí)行標準 | ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007 | |
ISO標準可以測量12個參數(shù) | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max | |
ASME標準可以測量11個參數(shù) | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda | |
ASME標準可以測量12個參數(shù) | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc | |
ASME標準可以測量13個參數(shù) | R3z (Daimler Benz) | |
ASME標準可以測量14個參數(shù) | um/uin | |
Surtronic S116泰勒粗糙度儀篤摯上海供應
3、功能特點
一個50mm長的測針升降裝置和直角附件
360度任意旋轉，任何方向任何高度測量
輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。
迷你USB 2.0用于充電或連接電腦傳輸數(shù)據(jù)。
A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲設備。
防滑的V型腳架設計使系統(tǒng)能夠用在平滑或彎曲的平面上。
測針還能夠反方向底部測量
泰勒霍普森采用良好的測量技術進而提供了市場型的計量儀器，適用于表面粗糙度、形狀和三維輪廓測量等，可滿足挑戰(zhàn)性的應用的需求。