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產品簡介
OLympus BX51M可用于觀察4寸以及4寸一下的硅片明場，暗場，偏光，微分干涉相襯，熒光觀察方式可選可連接多種膠片或數字照相系統·使用*物鏡實現明場、暗場、熒光、微分干涉、偏光的各種觀察·*的明視野顯微鏡圖像質量
詳細介紹
OLympus BX51M介紹
可用于觀察4寸以及4寸一下的硅片
明場，暗場，偏光，微分干涉相襯，熒光觀察方式可選
可連接多種膠片或數字照相系統
·使用*物鏡實現明場、暗場、熒光、微分干涉、偏光的各種觀察
·*的明視野顯微鏡圖像質量
·優秀的熒光觀察功能， 100W 汞燈的有效光強比原來增加一倍
·解像度和對比度鮮明的諾曼斯基微分干涉襯比法觀察
·放大倍率 50×～1000×
OLympus BX51M
·高剛性的 Y形鏡體結構提供 *的穩定性及系統靈活性
留了常規顯微鏡檢查的傳統襯度對比法，比如明場、暗場、偏光和微分干涉。隨著新材料的發展，現在可以使用*的顯微鏡檢查技術來進行更精確和更可靠的檢查，從而解決了以往很多使用傳統襯度對比法檢查時遇到的缺陷檢測方面的困難
MIX組合式觀察技術組合了明場和暗場照明方法。MIX組合式照明滑塊中的LED光源，以定向暗場光線照射樣品，這種方式類似于傳統暗場照明，但又具有更大的靈活性。這種明場與定向暗場的組合稱為MIX組合式照明，對突出顯示缺陷和區分隆起與凹陷表面很有用處。