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超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國標(biāo)）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國標(biāo)):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥＜0.05
(∥) :∥＜0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測報告:
超聲波探傷 | |||
檢測儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
檢測部位 | 平面 | 耦合劑 | 機油 |
增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
衰減 | 42db | ||
探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷. | ||
試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999(優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼)標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
金相分析:晶粒度7-8級 | |||
備注:校準(zhǔn)(檢驗)所用主要計量標(biāo)準(zhǔn)器
1.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測量儀,4.三坐標(biāo)測量儀,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗,7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
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