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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> ElektroPhysik測(cè)厚儀校準(zhǔn)
所在地：德國
貨物所在地：上海上海市
更新時(shí)間：2024/9/25 15:58:51
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Minitest 3100測(cè)厚儀校準(zhǔn)有五種不同的方法：
1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)：推薦用于均勻表面上的測(cè)量，如果測(cè)量對(duì)象與ElektroPhysik零板具有相同的材料，尺寸和曲率。
2.一點(diǎn)校準(zhǔn)（不使用校準(zhǔn)箔調(diào)零）：如果允許測(cè)量誤差達(dá)±±（讀數(shù)的3％*加上探頭的常數(shù)誤差），建議使用。 （恒定探頭誤差示例：F.1.6：1μm）。
3.兩點(diǎn)校準(zhǔn)（使用校準(zhǔn)箔校準(zhǔn)和校準(zhǔn)）：如果預(yù)期的讀數(shù)將接近校準(zhǔn)值，并且探頭的允許誤差將zui大為±（1％... 3％讀數(shù)*（根據(jù)探頭）加恒定探頭誤差）*參照實(shí)驗(yàn)室條件下提供的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。
4.兩點(diǎn)校準(zhǔn)（使用一組兩個(gè)校準(zhǔn)箔）：a）推薦用于粗糙表面上的測(cè)量。 b）如果要預(yù)期的厚度在兩個(gè)校準(zhǔn)箔的厚度之間，建議在光滑表面進(jìn)行測(cè)量。
5.通過涂層（CTC）進(jìn)行校準(zhǔn)：使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行校準(zhǔn)。如果測(cè)試樣品被涂覆并且沒有未涂覆的樣品可用于比較，則推薦使用。該方法適用于以下探針：F05，F(xiàn)1.6，F(xiàn)3和FN1.6（僅含鐵部件），F(xiàn)1.6 / 90，F(xiàn)2 / 90，F(xiàn)10，F(xiàn)20和F50
技術(shù)規(guī)格：
電源：1 x 9 V堿性電池，
電池壽命：10,000次
交流適配器環(huán)境溫度：*探頭適用于高達(dá)350°C的高溫
測(cè)量溫度：0 ... 50°C;
探針：-10℃。 ..70°C，短暫可用120°C（測(cè)量范圍0 ... 2,000μm）
符合DIN 50981，50982，50984，
尺寸/重量：150 mm x 82 mm x 35 mm / 270 g
標(biāo)準(zhǔn)：ISO 2178,2360 / BS 5411 / ASTM B499，B244-CE
1）在實(shí)驗(yàn)室條件下與所提供的標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)2）我們的標(biāo)準(zhǔn)和要測(cè)量的對(duì)象的不同銅成分需要準(zhǔn)備的參考標(biāo)準(zhǔn)（例如橫切）
篤摯儀器（上海）有限公司 - 主營產(chǎn)品： fischer電導(dǎo)率測(cè)試儀,上海菲希爾辦事處,菲希爾Fisc ...
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