涂層測厚儀/鍍層測厚儀/漆膜測厚儀

主要功能
　　可進行零點校準及二點校準。
　　可對測頭進行基本校準。
　　設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。
　　可存貯和統計計算15個測量值。
　　具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
　　具有自動關機功能。
　　刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。 
　　操作過程有蜂鳴聲提示。
　　有欠壓指示功能。
　　有錯誤提示功能。

主要技術指標
　　測量原理：磁性法
　　測量范圍:1～1250μm
　　測量精度：±（3%H+1）μm（零點校準）
　　　　　　　±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）

（二）渦流法測厚儀（主要用于檢測銅及鋁材上涂鍍層及漆膜厚度）

    本儀器是一種超小型的測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

主要功能
　　可進行零點校準及二點校準。
　　可對測頭進行基本校準。
　　設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。可存貯和統計計算15個測量值。
　　具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
　　自動關機功能。
　　刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。
　　操作過程有蜂鳴聲提示。
　　有欠壓指示功能。
　　有錯誤提示功能。

主要技術指標　
　　測量原理：渦流法
　　測量范圍：1～1250μm
　　測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
　　　　　　　±[(1～3)%H+1.5] μm（二點校準）