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BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺
簡要描述:可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料
制冷方式：半導體
溫度范圍：-10°C到120°C
溫度分辨率：0.1°C
控溫精度：±0.1°C
最大加熱速率：20°C/min
最大冷卻速率：-20°C/min
樣品臺大小：34*34mm
通光孔直徑：Φ6mm
外觀尺寸：85*92*17mm
腔體凈重：0.2kg
備 注：5°C下結露，0°C下結霜
配套：A2105(標準載玻片)
簡要描述:可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料
制冷方式：半導體
溫度范圍：-10°C到120°C
溫度分辨率：0.1°C
控溫精度：±0.1°C
最大加熱速率：20°C/min
最大冷卻速率：-20°C/min
樣品臺大小：34*34mm
通光孔直徑：Φ6mm
外觀尺寸：85*92*17mm
腔體凈重：0.2kg
備 注：5°C下結露，0°C下結霜
配套：A2105(標準載玻片)
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