描電導(dǎo)率－塞貝克系數(shù)顯微鏡可以測(cè)量樣品的電導(dǎo)率和塞貝克系數(shù)的空間分布狀況，是研究熱電材料的利器。

主要技術(shù)參數(shù)

   測(cè)量結(jié)果重復(fù)性：    優(yōu)于3%
   誤差
   塞貝克系數(shù)：          < 3% (半導(dǎo)體)
                                < 5% (金屬)
   電導(dǎo)率：                < 5% (半導(dǎo)體)
                                < 8% (金屬)
   測(cè)量速度：            測(cè)量一個(gè)點(diǎn)的時(shí)間小于4秒

   電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡技術(shù)由德國(guó) Panco 公司和德國(guó)宇航中心公共研制開(kāi)發(fā)，點(diǎn)擊資料下載按鈕下載說(shuō)明手冊(cè)。

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Beijing University of Technology
Corning Company
Korea Research Institute of Standards and Science
Shanghai Institute of Ceramics, CAS
Germany Air Force Research Lab

Simens Company 
Gwangju Institute of Science and Technology 
Hamburg University 
Munich University